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三維光學(xué)輪廓儀
Sensofar
S neoxSensofar高精度表面測量的革命性工具
在現(xiàn)代工業(yè)制造、科研實(shí)驗(yàn)和質(zhì)量控制領(lǐng)域,高精度的表面形貌測量至關(guān)重要。無論是半導(dǎo)體、光學(xué)元件、精密加工,還是生物醫(yī)學(xué)和材料科學(xué)研究,都需要高分辨率、高重復(fù)性的測量手段。西班牙Sensofar公司推出的共聚焦白光干涉儀(Confocal White Light Interferometer)憑借其超高精度、快速測量和多功能性,成為全球表面測量技術(shù)的選擇。Sensofar高精度表面測量的革命性工具
在現(xiàn)代工業(yè)制造、科研實(shí)驗(yàn)和質(zhì)量控制領(lǐng)域,高精度的表面形貌測量至關(guān)重要。無論是半導(dǎo)體、光學(xué)元件、精密加工,還是生物醫(yī)學(xué)和材料科學(xué)研究,都需要高分辨率、高重復(fù)性的測量手段。西班牙Sensofar公司推出的共聚焦白光干涉儀(Confocal White Light Interferometer)憑借其超高精度、快速測量和多功能性,成為全球表面測量技術(shù)的選擇。Sensofar高精度表面測量的革命性工具
Sensofar的共聚焦白光干涉儀結(jié)合了共聚焦顯微鏡和白光干涉技術(shù)的優(yōu)勢,能夠在不同應(yīng)用場景下實(shí)現(xiàn)測量:
共聚焦模式:適用于高反射率或透明材料的表面測量,可提供高分辨率3D形貌數(shù)據(jù)。
白光干涉模式:適合超光滑表面(如光學(xué)鏡片、晶圓)的納米級粗糙度測量。
混合模式:可智能切換,適應(yīng)不同材料特性,確保測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。
垂直分辨率:可達(dá)0.1 nm,適用于納米級表面分析。
橫向分辨率:光學(xué)系統(tǒng)優(yōu)化,可達(dá)到衍射極限,確保微小結(jié)構(gòu)的清晰成像。
高速掃描:采用優(yōu)良的壓電陶瓷驅(qū)動技術(shù),單次測量僅需數(shù)秒,大幅提升檢測效率。
Sensofar配備SensoMAP專業(yè)分析軟件,支持:
3D形貌重建
粗糙度(Ra, Rz, Sa, Sz等參數(shù))自動計算
臺階高度、薄膜厚度測量
批量自動化檢測,適合生產(chǎn)線集成
晶圓檢測:測量刻蝕深度、CMP(化學(xué)機(jī)械拋光)后的表面平整度。
MEMS器件:分析微機(jī)電系統(tǒng)的3D結(jié)構(gòu),確保工藝一致性。
透鏡、反射鏡:檢測表面粗糙度,確保光學(xué)性能。
超精密模具:測量刀具磨損、加工紋理,優(yōu)化制造工藝。
生物材料表面:如人工關(guān)節(jié)、牙科植入物的粗糙度分析。
涂層與薄膜:測量厚度、均勻性,評估材料性能。
發(fā)動機(jī)部件:檢測活塞、渦輪葉片的表面質(zhì)量。
復(fù)合材料:分析纖維增強(qiáng)材料的微觀結(jié)構(gòu)。
Sensofar是光學(xué)3D表面測量領(lǐng)域的,其設(shè)備廣泛應(yīng)用于ASML、蔡司、三星等優(yōu)良企業(yè)。
用戶可根據(jù)需求選擇:
不同放大倍率的物鏡(2.5X~150X)
電動載物臺,實(shí)現(xiàn)自動化測量
環(huán)境隔振系統(tǒng),確保實(shí)驗(yàn)室級精度
Sensofar在全球設(shè)有技術(shù)支持中心,提供:
設(shè)備安裝與培訓(xùn)
定期校準(zhǔn)與維護(hù)
軟件升級與定制化開發(fā)
該公司采用Sensofar S neox系列干涉儀,將晶圓表面檢測速度提升300%,同時減少人工誤差,良品率提高15%。
通過Sensofar設(shè)備的實(shí)時監(jiān)測,該企業(yè)成功優(yōu)化CMP工藝,將鏡頭表面粗糙度控制在0.5 nm以下,達(dá)到相機(jī)鏡頭的標(biāo)準(zhǔn)。
隨著智能制造、納米技術(shù)的快速發(fā)展,高精度表面測量的需求將持續(xù)增長。Sensofar不斷推進(jìn)技術(shù)創(chuàng)新,未來將整合AI智能分析、云端數(shù)據(jù)管理等功能,為用戶提供更智能、高效的測量解決方案。
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