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三維光學輪廓儀
Sensofar
Sensofar S neox光學輪廓儀多樣表面測量
Sensofar S neox光學輪廓儀多樣表面測量在微納尺度表面表征領域,Sensofar S neox光學輪廓儀通過創(chuàng)新的多技術融合設計,為科研與工業(yè)應用提供了可靠的測量解決方案。該設備整合了共聚焦顯微鏡、干涉儀和白光干涉儀三種測量模式,能夠適應不同特性的樣品表面分析需求。
產(chǎn)品分類
在微納尺度表面表征領域,Sensofar S neox光學輪廓儀通過創(chuàng)新的多技術融合設計,為科研與工業(yè)應用提供了可靠的測量解決方案。該設備整合了共聚焦顯微鏡、干涉儀和白光干涉儀三種測量模式,能夠適應不同特性的樣品表面分析需求。
多模式測量技術特點:
共聚焦模式適用于高陡坡表面測量
干涉模式可實現(xiàn)亞納米級分辨率
白光干涉模式提供較大視場的三維形貌重建
自動模式識別功能可智能選擇優(yōu)良測量方案
典型應用場景:
微電子行業(yè):晶圓、MEMS器件表面檢測
精密加工:刀具、模具表面質(zhì)量評估
材料研究:涂層、薄膜表面形貌分析
生物醫(yī)學:植入物表面特性表征
智能化操作體驗:
配備直觀的測量分析軟件
支持自動化測量流程
提供全面的表面參數(shù)分析功能
可定制化測量方案滿足特殊需求
Sensofar S neox憑借其靈活的多技術集成設計,為表面形貌測量提供了更多可能性。如需了解設備詳細技術參數(shù)或獲取應用支持,歡迎聯(lián)系Sensofar專業(yè)技術服務團隊。
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