Sensofar 輪廓儀：微觀檢測好幫手

產(chǎn)品簡介

Sensofar 輪廓儀：微觀檢測好幫手
Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學(xué)測量技術(shù)，適用于微納米級表面形貌分析，可滿足半導(dǎo)體、精密制造、材料科學(xué)等領(lǐng)域的高精度檢測需求。

產(chǎn)品型號：S neox

更新時間：2025-08-19

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：48

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

三維光學(xué)輪廓儀

BEUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀 Sensofar 儀光新型共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR 3D光學(xué)輪廓儀 SENSOFAR共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR結(jié)構(gòu)光三維輪廓儀 SENSOFAR平面度測量干涉儀 ZYGO三維光學(xué)輪廓儀布魯克三維光學(xué)輪廓儀

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在科研與工業(yè)生產(chǎn)中，對物體表面微觀形貌的細致了解十分重要。Sensofar 三維共聚焦白光干涉光學(xué)輪廓儀憑借技術(shù)融合與實用設(shè)計，為各領(lǐng)域提供了可靠的測量支持。以下介紹兩款該系列產(chǎn)品。Sensofar 輪廓儀：微觀檢測好幫手

一、S neox：多技術(shù)融合，適用廣泛

產(chǎn)品細節(jié)：設(shè)計緊湊，操作便捷

S neox 的外觀設(shè)計緊湊，能輕松安放在實驗室的工作臺面，不會占用過多空間。操作面板的按鍵布局合理，搭配清晰的顯示屏，操作人員能快速熟悉各項功能的設(shè)置。樣品臺采用平穩(wěn)的移動結(jié)構(gòu)，可靈活調(diào)整樣品位置，確保測量區(qū)域精準(zhǔn)對準(zhǔn)。設(shè)備的光學(xué)鏡頭部分有保護裝置，能減少灰塵和意外觸碰對鏡頭的影響。

產(chǎn)品性能：技術(shù)協(xié)同，表現(xiàn)穩(wěn)定

這款輪廓儀融合了共聚焦和白光干涉兩種技術(shù)，可根據(jù)樣品表面特性自動切換或組合使用。共聚焦技術(shù)適用于粗糙表面或高對比度樣品的成像，白光干涉技術(shù)則在光滑表面的三維形貌測量中表現(xiàn)出色。在測量過程中，設(shè)備運行平穩(wěn)，數(shù)據(jù)采集連貫，能保持較好的結(jié)果一致性。其測量范圍可靈活調(diào)整，滿足不同尺寸樣品和測量精度的需求。

用材講究：注重品質(zhì)，經(jīng)久耐用

S neox 的光學(xué)元件選用高透光率的材料，保證光線傳輸?shù)姆€(wěn)定性，提升成像質(zhì)量。機械傳動部件采用耐磨的合金材料，減少長期使用后的磨損，維持運動精度。設(shè)備外殼采用堅固的金屬材質(zhì)，具有一定的抗沖擊能力，能保護內(nèi)部部件免受外界環(huán)境的影響。

參數(shù)詳情

參數(shù)項	具體數(shù)值
橫向分辨率	可滿足多數(shù)微觀測量場景
縱向分辨率	適應(yīng)精細表面的高度測量
樣品臺尺寸	可放置常規(guī)大小的樣品
測量速度	依樣品情況調(diào)節(jié)，平衡效率與質(zhì)量
數(shù)據(jù)格式	支持多種常用格式，方便后續(xù)處理

廣泛用途

在材料科學(xué)領(lǐng)域，可用于測量薄膜厚度、表面粗糙度，為材料性能研究提供數(shù)據(jù)。在半導(dǎo)體行業(yè)，能檢測芯片表面的微小缺陷和結(jié)構(gòu)尺寸，助力產(chǎn)品質(zhì)量控制。在光學(xué)制造中，可對透鏡、棱鏡等元件的表面面形進行測量，確保其光學(xué)性能符合要求。此外，在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域，也可用于生物樣本的表面形貌觀察。

使用說明

使用前，檢查設(shè)備的電源連接和各部件是否完好。將設(shè)備放置在平穩(wěn)、無強烈振動的工作臺上，避免環(huán)境干擾。放置樣品時，輕放并固定牢固，防止測量中移位。根據(jù)樣品類型選擇合適的測量模式和參數(shù)，設(shè)置完成后啟動測量。測量過程中，留意設(shè)備運行狀態(tài)，若出現(xiàn)異常應(yīng)及時停止并排查原因。測量結(jié)束后，關(guān)閉電源，清理樣品臺，定期清潔光學(xué)鏡頭，保持設(shè)備良好狀態(tài)。Sensofar 輪廓儀：微觀檢測好幫手

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