布魯克白光干涉輪廓儀落地式測量的革新力量

產(chǎn)品簡介

布魯克白光干涉輪廓儀落地式測量的革新力量
在科研探索與工業(yè)生產(chǎn)對高精度測量需求日益增長的當下，布魯克 ContourX - 1000 白光干涉光學輪廓儀以其設(shè)計與強大性能，成為落地式測量設(shè)備中的，為眾多領(lǐng)域帶來全新的測量體驗。

產(chǎn)品型號：

更新時間：2025-08-20

廠商性質(zhì)：代理商

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

三維光學輪廓儀

BEUKER白光干涉光學輪廓儀 Sensofar 儀光新型共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR 3D光學輪廓儀 SENSOFAR共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR結(jié)構(gòu)光三維輪廓儀 SENSOFAR平面度測量干涉儀 ZYGO三維光學輪廓儀布魯克三維光學輪廓儀

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在科研探索與工業(yè)生產(chǎn)對高精度測量需求日益增長的當下，布魯克 ContourX - 1000 白光干涉光學輪廓儀以其設(shè)計與強大性能，成為落地式測量設(shè)備中的，為眾多領(lǐng)域帶來全新的測量體驗。布魯克白光干涉輪廓儀落地式測量的革新力量

產(chǎn)品細節(jié)：穩(wěn)固設(shè)計，智能操作

ContourX - 1000 采用落地式結(jié)構(gòu)，機身穩(wěn)固，能有效抵抗外界振動干擾。其集成了 Bruker 傾斜 / 俯仰光學頭，雙光源、自動化的物鏡轉(zhuǎn)盤和樣品臺，以及可選配的晶圓卡盤。這種創(chuàng)新設(shè)計為各種復雜應用提供了極大便利，對于有難度的表面和深溝槽結(jié)構(gòu)也能輕松應對。操作界面配備簡潔且有引導性的 VisionXpress™程序和模式，降低了操作人員的使用難度，即使經(jīng)驗不足也能快速上手，輕松完成測量工作。全新的一鍵式高級尋找表面（Advanced Find Surface ™）功能結(jié)合自動聚焦和自動照明功能，無需每次測量前手動查找樣品表面，極大提升了用戶體驗且縮短測量時間。

產(chǎn)品性能：*技術(shù)，高效穩(wěn)定

該輪廓儀融合了*的白光干涉技術(shù)與自動化功能。白光干涉技術(shù)精準測量表面微觀形貌，自動化功能則大幅提高測量效率。設(shè)備運行穩(wěn)定，配備專屬的內(nèi)部參考激光和防震臺，即便在嘈雜環(huán)境中，也能確保測量性能不受影響，提供可靠的測量結(jié)果。全局掃描干涉（USI）自適應測量模式可自動確定測量參數(shù)，在幾十微米尺度內(nèi)也能確保納米級分辨率，無論是對光滑表面還是粗糙表面，都能實現(xiàn)高精度測量。

用材講究：堅固耐用，品質(zhì)保障

ContourX - 1000 的選材注重堅固耐用與性能穩(wěn)定。光學部件采用高品質(zhì)材料，確保成像清晰、測量準確。機械結(jié)構(gòu)選用高強度金屬，保證設(shè)備在長期使用中，維持精準的運動精度。設(shè)備整體架構(gòu)設(shè)計穩(wěn)固，有效抵抗外界干擾，適應工業(yè)生產(chǎn)車間等復雜環(huán)境，保障設(shè)備的穩(wěn)定運行與長期使用。

參數(shù)詳情

參數(shù)項	具體數(shù)值
測量模式	具備全局掃描干涉（USI）自適應測量模式
自動功能	自動對焦、自動照明、自動強度調(diào)整、自動保存、自動拼接等
光學頭特性	可傾斜 / 俯仰，優(yōu)化圖像采集
防震設(shè)計	集成防震臺，減少外界振動影響
測量重復性	表現(xiàn)優(yōu)秀，結(jié)果可靠

廣泛用途

在材料研發(fā)中，可用于分析材料表面的微觀結(jié)構(gòu)、涂層厚度均勻性等，為新材料的開發(fā)與性能優(yōu)化提供重要依據(jù)。在半導體制造環(huán)節(jié)，能精確檢測芯片表面的平整度、缺陷等，保障芯片制造的良品率。在汽車零部件制造、醫(yī)療器械生產(chǎn)等行業(yè)，對于零部件表面粗糙度、紋理的測量，有助于提升產(chǎn)品質(zhì)量，確保產(chǎn)品性能符合標準。布魯克 ContourX - 1000 白光干涉光學輪廓儀憑借創(chuàng)新設(shè)計、強大性能與廣泛適用性，成為落地式測量設(shè)備中的革新力量，助力各行業(yè)在精密測量領(lǐng)域不斷突破，邁向新的高度。布魯克白光干涉輪廓儀落地式測量的革新力量

上一個：布魯克白光干涉輪廓儀桌面級測量的得力之選