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Sensofar三維共聚焦輪廓儀多技術表面測量

產(chǎn)品簡介

Sensofar三維共聚焦輪廓儀多技術表面測量
Sensofar S neox三維共聚焦白光干涉光學輪廓儀采用模塊化設計,集成共聚焦、白光干涉、相位差干涉及AI多焦面疊加四種測量模式。

產(chǎn)品型號:S neox
更新時間:2025-10-11
廠商性質(zhì):代理商
訪問量:110
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產(chǎn)品細節(jié)
Sensofar S neox三維共聚焦白光干涉光學輪廓儀采用模塊化設計,集成共聚焦、白光干涉、相位差干涉及AI多焦面疊加四種測量模式。傳感器頭內(nèi)置高速高分辨率黑白CCD攝像頭(2442×2048像素,60fps)與彩色攝像頭,支持實時彩色成像與高對比度深度編碼。設備配備6位電動鼻輪,可快速切換物鏡(5×、20×、100×共聚焦物鏡,10×、20×干涉物鏡),適應不同測量需求。Sensofar三維共聚焦輪廓儀多技術表面測量

產(chǎn)品性能

  • 速度:數(shù)據(jù)采集速度達180幀/秒,典型三維圖像獲取僅需3秒,較傳統(tǒng)設備效率提升5倍。

  • 精度:共聚焦模式橫向分辨率0.10μm,Z軸重復性達納米級;白光干涉模式縱向分辨率穩(wěn)定在納米級,支持粗糙表面測量。

  • 穩(wěn)定性:無運動部件設計減少機械誤差,LED光源壽命長達50,000小時,避免激光散斑干擾。

用材與參數(shù)表

參數(shù)項規(guī)格
測量范圍Z軸:0.1nm-34mm;XY平臺:125mm×75mm
最大拼接張數(shù)10×12(500Mpx高分辨率模式)
光源類型四色LED(紅、綠、藍、白)
適用表面斜率光滑表面70°,粗糙表面86°


型號與用途

  • 型號:S neox

  • 應用領域:半導體晶圓平整度檢測、微電子器件表面形貌分析、精密加工刀具切削刃測量、醫(yī)療植入物表面紋理研究。

使用說明

  1. 樣品放置:將樣品置于XY平臺,使用傾斜平臺調(diào)平。

  2. 模式選擇:通過SensoSCAN軟件一鍵切換共聚焦、干涉或多焦面疊加模式。

  3. 參數(shù)設置:根據(jù)樣品材質(zhì)調(diào)整照明亮度與掃描范圍,支持ISO 25178/4287標準粗糙度測量。

  4. 結(jié)果分析:利用SensoVIEW軟件生成2D/3D視圖,實時顯示剖面線高度信息。

  5. Sensofar三維共聚焦輪廓儀多技術表面測量

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