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三維光學(xué)輪廓儀
BEUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀
布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀科研測(cè)量好搭檔
布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀科研測(cè)量好搭檔在科研實(shí)驗(yàn)中,精準(zhǔn)把握材料表面微觀形貌至關(guān)重要。布魯克 ContourGT - K 白光干涉光學(xué)輪廓儀,憑借實(shí)用設(shè)計(jì)與穩(wěn)定性能,成為科研人員的得力助手。
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布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀科研測(cè)量好搭檔
參數(shù)項(xiàng) | 具體數(shù)值 |
橫向分辨率 | 適配常規(guī)科研測(cè)量需求 |
縱向測(cè)量范圍 | 多檔位可選 |
樣品臺(tái)尺寸 | 200mm×150mm |
測(cè)量速度 | 隨樣品情況可調(diào) |
數(shù)據(jù)接口 | 支持 USB、以太網(wǎng)連接 |
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