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布魯克三維輪廓儀:實驗室微觀測量優(yōu)選

產(chǎn)品簡介

布魯克三維輪廓儀:實驗室微觀測量優(yōu)選
在科研實驗室的微觀測量工作中,一款穩(wěn)定且易用的輪廓儀能顯著提升研究效率。布魯克三維光學(xué)輪廓儀 ContourX-500,憑借貼合實驗室場景的設(shè)計與可靠性能,成為眾多科研人員的常用工具。

產(chǎn)品型號:ContourX-500
更新時間:2025-08-25
廠商性質(zhì):代理商
訪問量:30
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布魯克三維輪廓儀:實驗室微觀測量優(yōu)選

在科研實驗室的微觀測量工作中,一款穩(wěn)定且易用的輪廓儀能顯著提升研究效率。布魯克三維光學(xué)輪廓儀 ContourX-500,憑借貼合實驗室場景的設(shè)計與可靠性能,成為眾多科研人員的常用工具。
產(chǎn)品細(xì)節(jié)
ContourX-500 采用桌面式緊湊設(shè)計,機身尺寸小巧,無需占用過多實驗臺空間,輕松融入各類實驗室布局。操作面板布局清晰,按鍵標(biāo)識簡潔易懂,搭配高清觸控顯示屏,即使是初次操作的人員,也能通過引導(dǎo)式菜單快速完成參數(shù)設(shè)置。樣品臺采用高精度平移結(jié)構(gòu),配備可調(diào)節(jié)的樣品夾具,能穩(wěn)固固定從微小芯片到中等尺寸光學(xué)鏡片的各類樣品,且移動過程平穩(wěn)無震,確保測量區(qū)域精準(zhǔn)對準(zhǔn)。設(shè)備光學(xué)鏡頭處設(shè)有防塵保護(hù)蓋,閑置時可有效隔絕灰塵,保障光學(xué)部件清潔;側(cè)面預(yù)留數(shù)據(jù)接口,方便連接電腦、打印機等外部設(shè)備,實現(xiàn)數(shù)據(jù)導(dǎo)出與報告打印。
產(chǎn)品性能
ContourX-500 融合白光干涉與共聚焦測量技術(shù),可根據(jù)樣品表面特性自動切換測量模式。面對光滑的光學(xué)元件表面,白光干涉技術(shù)能清晰捕捉納米級的高度變化;測量粗糙的金屬或塑料表面時,共聚焦模式則可提供高橫向分辨率的細(xì)節(jié)成像。設(shè)備測量過程中數(shù)據(jù)采集連貫,多次測量同一位置的結(jié)果一致性較好,能為科研實驗提供穩(wěn)定的數(shù)據(jù)支持。其測量速度可根據(jù)需求調(diào)節(jié),快速掃描模式適合大面積樣品的初步檢測,精細(xì)掃描模式則能滿足小區(qū)域高分辨率測量需求,兼顧效率與精度。
用材講究
核心光學(xué)部件選用高透光率的光學(xué)玻璃,經(jīng)過特殊鍍膜處理,減少光線反射與色散,確保成像清晰。樣品臺臺面采用耐磨的陶瓷材料,表面經(jīng)過精細(xì)拋光,既具備良好的平整度,又能抵常使用中的刮擦,延長使用壽命。內(nèi)部機械傳動部件采用高強度合金,配合精密導(dǎo)軌,保障長期使用后的運動精度,減少部件磨損帶來的測量偏差。設(shè)備外殼采用防腐蝕的工程塑料,輕便且堅固,能保護(hù)內(nèi)部元件免受實驗室常見化學(xué)試劑的輕微腐蝕。
參數(shù)詳情
參數(shù)項
具體數(shù)值
橫向分辨率
最高可達(dá) 0.14μm
縱向分辨率
低至 0.1nm
測量范圍(縱向)
0.1nm - 10mm
樣品臺尺寸
150mm×150mm
樣品臺承重
5kg
掃描速度
0.1 - 10mm/s(可調(diào))
數(shù)據(jù)接口
USB 3.0、以太網(wǎng)
工作溫度
18 - 25℃
相對濕度
30% - 60%(無冷凝)
廣泛用途
在材料科學(xué)研究中,ContourX-500 可用于測量薄膜厚度、表面粗糙度,助力分析涂層制備工藝對材料性能的影響;在光學(xué)元件研發(fā)領(lǐng)域,能檢測透鏡、棱鏡的表面面形誤差與邊緣缺陷,為元件性能優(yōu)化提供數(shù)據(jù);在生物醫(yī)學(xué)研究中,可觀察細(xì)胞培養(yǎng)載體的表面微觀結(jié)構(gòu),研究其對細(xì)胞黏附與生長的影響;此外,在微電子領(lǐng)域,還能用于檢測芯片封裝表面的焊點高度與平整度,輔助改進(jìn)封裝工藝。
使用說明
使用前,需將 ContourX-500 放置在水平、無明顯振動的實驗臺上,檢查電源連接是否正常,打開設(shè)備電源進(jìn)行預(yù)熱,預(yù)熱時間建議不少于 30 分鐘。清潔樣品表面的灰塵與油污,根據(jù)樣品尺寸調(diào)整樣品夾具,將樣品平穩(wěn)固定在樣品臺上,確保樣品表面無傾斜。通過觸控屏選擇測量模式,設(shè)置掃描范圍、分辨率、速度等參數(shù),若需保存測量方案,可在系統(tǒng)中創(chuàng)建自定義程序。點擊 “開始測量" 后,設(shè)備自動啟動掃描,過程中避免觸碰樣品臺或設(shè)備機身。測量完成后,系統(tǒng)自動生成三維形貌圖與數(shù)據(jù)報告,可通過數(shù)據(jù)接口導(dǎo)出至電腦進(jìn)行進(jìn)一步分析。實驗結(jié)束后,關(guān)閉設(shè)備電源,蓋上鏡頭防塵蓋,清潔樣品臺與夾具,定期(建議每 3 個月)請專業(yè)人員對光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行校準(zhǔn),確保設(shè)備長期處于良好工作狀態(tài)。


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