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三維光學(xué)輪廓儀
BEUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀
ContourX-200BEUKER三維光學(xué)輪廓儀輕工業(yè)生產(chǎn)質(zhì)檢幫手
BEUKER三維光學(xué)輪廓儀輕工業(yè)生產(chǎn)質(zhì)檢幫手在小型電子廠、塑料制品廠等輕工業(yè)生產(chǎn)場景中,布魯克 ContourX-200 以低成本、易操作的特點,成為生產(chǎn)線質(zhì)檢的實用工具,幫助企業(yè)把控基礎(chǔ)生產(chǎn)質(zhì)量。
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參數(shù)項 | 具體數(shù)值 |
橫向分辨率 | 最高可達 0.5μm |
縱向分辨率 | 低至 1nm |
縱向測量范圍 | 1nm-5mm |
樣品臺尺寸 | 100mm×100mm |
單次測量時間 | 約 2-3 分鐘(標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)) |
合格判定功能 | 支持自定義合格范圍 |
數(shù)據(jù)存儲 | 支持 U 盤導(dǎo)出、本地存 500 組 |
打印功能 | 支持熱敏打印機,輸出簡易報告 |
工作溫度 | 15-30℃ |
相對濕度 | 20%-70%(無冷凝) |
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