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DSX1000顯微鏡材料科學(xué)研究的微觀探針
DSX1000顯微鏡材料科學(xué)研究的微觀探針高分子材料實(shí)驗(yàn)室通過(guò)DSX1000觀察聚乙烯吹塑薄膜的晶粒生長(zhǎng)過(guò)程,發(fā)現(xiàn)冷卻速率與薄膜透光率的量化關(guān)系
產(chǎn)品分類(lèi)
DSX1000顯微鏡材料科學(xué)研究的微觀探針
DSX1000為材料表征提供多維分析手段:
表面形貌:結(jié)合DIC與景深擴(kuò)展技術(shù),可測(cè)量金屬腐蝕坑深度(0.1μm級(jí));
內(nèi)部結(jié)構(gòu):透射照明模塊支持觀察復(fù)合材料纖維分布,圖像對(duì)比度較傳統(tǒng)方法提升40%;
應(yīng)力分析:偏光模式配合補(bǔ)償器,可定量測(cè)量玻璃內(nèi)部殘余應(yīng)力分布。
物鏡采用氟化鎂(MgF?)增透膜,在紫外波段(365nm)仍保持92%透光率;載物臺(tái)使用花崗巖基座,熱膨脹系數(shù)低至2.3×10??/℃,確保高溫環(huán)境下的測(cè)量穩(wěn)定性。
參數(shù)項(xiàng) | 規(guī)格 |
---|---|
應(yīng)力測(cè)量范圍 | 0-500MPa(偏光模式) |
纖維取向分析 | 支持0-90°角度定量統(tǒng)計(jì) |
軟件功能 | 晶粒尺寸分析/孔隙率計(jì)算/3D粗糙度 |
典型型號(hào) | DSX1000-POL(偏光套件) |
DSX1000-FIB(聚焦離子束聯(lián)動(dòng)) |
高分子材料實(shí)驗(yàn)室通過(guò)DSX1000觀察聚乙烯吹塑薄膜的晶粒生長(zhǎng)過(guò)程,發(fā)現(xiàn)冷卻速率與薄膜透光率的量化關(guān)系;陶瓷企業(yè)利用其3D測(cè)量功能分析氧化鋁基板翹曲度,優(yōu)化燒結(jié)工藝參數(shù);地質(zhì)學(xué)家則借助透射模式研究巖石切片中的礦物包裹體,追溯成礦流體演化歷史。
樣品制備:觀察金屬斷口時(shí),使用導(dǎo)電膠粘貼樣品以避免電荷積累;
參數(shù)優(yōu)化:分析各向異性材料時(shí),在軟件中輸入彈性模量數(shù)據(jù)以校正應(yīng)力計(jì)算;
多模態(tài)聯(lián)用:與EDS能譜儀聯(lián)動(dòng),在觀察缺陷的同時(shí)獲取元素成分信息;
數(shù)據(jù)處理:導(dǎo)出ISO 25178標(biāo)準(zhǔn)表面紋理參數(shù),導(dǎo)入MATLAB進(jìn)行頻譜分析。
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