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布魯克ContourX-500的硬件配置與參數(shù)解析

產(chǎn)品簡介

布魯克ContourX-500的硬件配置與參數(shù)解析
一臺測量儀器的能力邊界由其硬件配置和關(guān)鍵參數(shù)所界定。深入了解ContourX-500的硬件構(gòu)成與技術(shù)參數(shù),有助于用戶根據(jù)自身需求進(jìn)行評估和應(yīng)用。

產(chǎn)品型號:
更新時(shí)間:2025-10-13
廠商性質(zhì):代理商
訪問量:51
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布魯克ContourX-500的硬件配置與參數(shù)解析

一臺測量儀器的能力邊界由其硬件配置和關(guān)鍵參數(shù)所界定。深入了解ContourX-500的硬件構(gòu)成與技術(shù)參數(shù),有助于用戶根據(jù)自身需求進(jìn)行評估和應(yīng)用。

核心硬件配置

  • 主機(jī)框架: 采用剛性結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),旨在為內(nèi)部光學(xué)和機(jī)械部件提供穩(wěn)定的支撐。底座通常內(nèi)置被動(dòng)或主動(dòng)減震單元。

  • Z向掃描系統(tǒng): 采用壓電陶瓷促動(dòng)器或高精度伺服電機(jī)驅(qū)動(dòng),實(shí)現(xiàn)垂直方向的納米級步進(jìn)掃描。其掃描范圍(如0.1mm至數(shù)毫米)和閉環(huán)定位精度是重要指標(biāo)。

  • XY載物臺: 多為手動(dòng)或電動(dòng)平臺。電動(dòng)平臺可實(shí)現(xiàn)程序化控制的多點(diǎn)自動(dòng)測量,提升批量檢測的效率。行程范圍需滿足樣品的定位需求。

  • 干涉物鏡套組: 提供多種倍率選擇,是決定測量視野和分辨率的關(guān)鍵。通常配備可自動(dòng)切換的物鏡轉(zhuǎn)盤。

  • 相機(jī)系統(tǒng): 采用科學(xué)級CCD或CMOS相機(jī),其像素?cái)?shù)量決定了單次測量的橫向點(diǎn)數(shù),動(dòng)態(tài)范圍影響對不同反射率表面的適應(yīng)性。

  • 照明系統(tǒng): 集成高亮度LED白光光源,壽命長,穩(wěn)定性好。

關(guān)鍵參數(shù)表(示例,具體型號可能有所不同)

參數(shù)類別參數(shù)項(xiàng)目參考指標(biāo)
測量系統(tǒng)垂直測量原理白光掃描干涉(VSI)、相移干涉(PSI)

垂直分辨率< 0.1 nm (PSI模式下);< 1 nm (VSI模式下)

Z向掃描范圍標(biāo)準(zhǔn)配置可達(dá) 5 mm (可擴(kuò)展)

水平測量范圍取決于物鏡,從 0.5 mm x 0.5 mm 到 10 mm x 10 mm 以上
光學(xué)系統(tǒng)干涉物鏡5X, 10X, 20X, 50X, 100X (可選)

相機(jī)像素例如 2M Pixel (1600 x 1200)
機(jī)械平臺XY載物臺行程手動(dòng):100mm x 100mm;電動(dòng):150mm x 150mm (可選)

載物臺承重約 5 kg
通用性樣品尺寸適應(yīng)直徑200mm以內(nèi)的樣品(視平臺而定)

軟件標(biāo)準(zhǔn)符合ISO 25178, ASME B46.1等國際表面粗糙度標(biāo)準(zhǔn)

參數(shù)解讀與應(yīng)用選擇

  • 垂直分辨率 vs. 測量范圍: 這是一對需要權(quán)衡的參數(shù)。高倍物鏡(如50X)能提供優(yōu)異的垂直分辨率,但Z向掃描范圍和橫向視野會相應(yīng)減小。用戶需根據(jù)待測樣品的起伏程度和所需觀察的細(xì)節(jié)來選擇合適的物鏡。

  • 橫向分辨率: 主要由物鏡的數(shù)值孔徑和相機(jī)的像素?cái)?shù)量共同決定。更高的數(shù)值孔徑和更多的像素能提供更細(xì)致的橫向細(xì)節(jié)。

  • 測量速度: 受掃描速度、相機(jī)幀率和數(shù)據(jù)處理能力影響。對于需要快速統(tǒng)計(jì)性測量的場景,這是一個(gè)值得關(guān)注的參數(shù)。

通過審視ContourX-500的硬件配置和參數(shù)表,用戶可以清晰地了解其能力范圍,從而判斷其是否適用于特定的測量任務(wù),如微米級粗糙度分析、薄膜臺階高度測量或是MEMS器件形貌表征等。

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