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三維光學(xué)輪廓儀
Sensofar
S neoxSensofar 輪廓儀 :解鎖粗糙度測(cè)量更多可能
Sensofar 輪廓儀 :解鎖粗糙度測(cè)量更多可能在微型電子元件制造領(lǐng)域,如微型傳感器、微型連接器、芯片封裝元件等,其尺寸通常以微米為單位,表面質(zhì)量與尺寸精度直接決定元件的電氣性能與裝配兼容性。哪怕是幾微米的尺寸偏差或細(xì)微劃痕,都可能導(dǎo)致元件無法正常工作或裝配失效。
Sensofar 輪廓儀 :解鎖粗糙度測(cè)量更多可能
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