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三維光學(xué)輪廓儀
布魯克
ContourX-500布魯克非接觸式三維測(cè)量多場(chǎng)景解決方案
布魯克非接觸式三維測(cè)量多場(chǎng)景解決方案ContourX-500作為布魯克推出的臺(tái)式三維光學(xué)輪廓儀,以非接觸式白光干涉技術(shù)為核心,為工業(yè)檢測(cè)與實(shí)驗(yàn)室研究提供了靈活的三維形貌測(cè)量方案。
布魯克非接觸式三維測(cè)量多場(chǎng)景解決方案
ContourX-500作為布魯克推出的臺(tái)式三維光學(xué)輪廓儀,以非接觸式白光干涉技術(shù)為核心,為工業(yè)檢測(cè)與實(shí)驗(yàn)室研究提供了靈活的三維形貌測(cè)量方案。其核心優(yōu)勢(shì)在于將落地式白光干涉儀的功能集成于緊湊機(jī)身,占地面積減少40%,同時(shí)保持垂直分辨率0.1nm、橫向分辨率0.35μm的性能指標(biāo),可覆蓋從納米級(jí)薄膜到毫米級(jí)臺(tái)階的測(cè)量需求。
技術(shù)架構(gòu)與核心性能
設(shè)備采用模塊化設(shè)計(jì),光源模塊搭載雙色LED照明系統(tǒng),波長(zhǎng)范圍覆蓋可見(jiàn)光至近紅外,通過(guò)多波段濾波器適配不同反射率樣品。干涉鏡頭組支持5種物鏡切換(2.5X-50X),工作距離10-45mm,結(jié)合自動(dòng)測(cè)頭傾斜功能(±6°),可實(shí)現(xiàn)復(fù)雜曲面(如渦輪葉片、微透鏡陣列)的無(wú)損檢測(cè)。樣品臺(tái)采用氣動(dòng)減震設(shè)計(jì),承重達(dá)8kg,XY軸移動(dòng)范圍100mm×100mm,配合編碼器反饋系統(tǒng),定位重復(fù)性優(yōu)于0.1μm。
材料與工藝的可靠性保障
光學(xué)部件選用高純度熔融石英玻璃,透光率超91%,熱膨脹系數(shù)低至5.6×10??/℃,確保溫度波動(dòng)下光學(xué)路徑穩(wěn)定。鏡頭組表面鍍氧化硅與氟化鎂復(fù)合增透膜,反射率≤0.6%,提升干涉條紋對(duì)比度。機(jī)械結(jié)構(gòu)方面,底座采用高強(qiáng)度鑄鐵,有效吸收振動(dòng);臺(tái)面為304不銹鋼精密研磨,平整度誤差≤1.5μm,長(zhǎng)期使用不形變。
典型應(yīng)用場(chǎng)景
在半導(dǎo)體制造中,設(shè)備可檢測(cè)晶圓表面顆粒污染(0.1μm級(jí))與TSV通孔側(cè)壁粗糙度;在汽車行業(yè),用于分析發(fā)動(dòng)機(jī)氣門密封面磨損(深度≥9μm區(qū)域自動(dòng)標(biāo)記);在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域,可表征組織工程支架的孔隙率與拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。某光學(xué)鏡片廠商通過(guò)設(shè)備測(cè)量曲面誤差PV值,將加工良率從82%提升至94%。
參數(shù)速覽
項(xiàng)目 | 參數(shù) |
---|---|
型號(hào) | ContourX-500 |
垂直分辨率 | 0.1nm |
橫向分辨率 | 0.35μm-5μm(依物鏡而定) |
最大掃描范圍 | 5mm×5mm×5mm |
樣品臺(tái)尺寸 | 200mm×200mm |
重量 | 35kg |
電源要求 | 100-240V AC, 50/60Hz |
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