布魯克三維光學(xué)輪廓儀從設(shè)備啟動到數(shù)據(jù)分析

產(chǎn)品簡介

布魯克三維光學(xué)輪廓儀從設(shè)備啟動到數(shù)據(jù)分析
ContourX-500的操作流程兼顧效率與準確性，通過標準化步驟與智能化輔助功能，降低用戶學(xué)習(xí)成本。

產(chǎn)品型號：ContourX-500

更新時間：2025-10-13

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：73

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

三維光學(xué)輪廓儀

布魯克 BEUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀 Sensofar 儀光新型共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR 3D光學(xué)輪廓儀 SENSOFAR共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR結(jié)構(gòu)光三維輪廓儀 SENSOFAR平面度測量干涉儀 ZYGO三維光學(xué)輪廓儀布魯克三維光學(xué)輪廓儀

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布魯克三維光學(xué)輪廓儀從設(shè)備啟動到數(shù)據(jù)分析

ContourX-500的操作流程兼顧效率與準確性，通過標準化步驟與智能化輔助功能，降低用戶學(xué)習(xí)成本。

設(shè)備準備與校準

環(huán)境檢查：確保設(shè)備放置于水平臺面，溫度17-29℃、濕度30-65%，避免陽光直射與強振動源。
光學(xué)校準：開機預(yù)熱10分鐘后，啟動Vision64®軟件，選擇“系統(tǒng)校準"模塊，使用NIST溯源的臺階標樣（高度10μm）驗證垂直分辨率，重復(fù)測量30次的標準偏差應(yīng)＜0.75%。
光路對齊：放置樣品前，通過“實時預(yù)覽"功能調(diào)整物鏡焦距與光強，確保干涉條紋清晰可見。

測量流程

樣品固定：使用真空吸盤或磁性夾具固定樣品，避免手動接觸導(dǎo)致污染。對于曲面樣品（如透鏡），需選用專用光學(xué)夾具并調(diào)整光軸對齊。
參數(shù)設(shè)置：根據(jù)樣品特征選擇測量模式（如PSI模式適用于平滑表面，VSI模式適用于臺階結(jié)構(gòu)），設(shè)置掃描范圍（最大5mm×5mm）、步長（推薦0.5μm）與拼接方式（自動或手動）。
數(shù)據(jù)采集：點擊“開始掃描"后，設(shè)備自動完成光強校準、背景校正與形貌重建，單次測量時間依區(qū)域大小而定（通常2-10分鐘）。

數(shù)據(jù)分析與導(dǎo)出
軟件支持三維形貌圖、截面曲線與統(tǒng)計報表的生成，數(shù)據(jù)可導(dǎo)出為CSV、DXF或圖像格式（PNG、TIFF）。通過“批量處理"功能，用戶可同時分析多個樣品的數(shù)據(jù)，并生成符合ISO 25178標準的定制化報告。

布魯克三維光學(xué)輪廓儀從設(shè)備啟動到數(shù)據(jù)分析

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