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光學(xué)顯微鏡
徠卡光學(xué)顯微鏡
DVM6徠卡光學(xué)顯微鏡:兼容性參數(shù)與外接設(shè)備適配
徠卡光學(xué)顯微鏡:兼容性參數(shù)與外接設(shè)備適配DVM6 支持與多種外接設(shè)備連接,拓展設(shè)備功能,以下為主要兼容性參數(shù)與適配說明
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徠卡光學(xué)顯微鏡:兼容性參數(shù)與外接設(shè)備適配
圖像模糊:若為反光導(dǎo)致,可切換至同軸光源并降低亮度;若為對(duì)焦不準(zhǔn),可開啟 “實(shí)時(shí)對(duì)焦輔助" 功能,調(diào)整焦距至清晰度數(shù)值最高;若為鏡頭污染,需用專用鏡頭紙清潔物鏡表面。
測(cè)量數(shù)據(jù)偏差:首先檢查是否定期進(jìn)行設(shè)備校準(zhǔn),若未校準(zhǔn),需使用標(biāo)準(zhǔn)樣品完成校準(zhǔn);其次確認(rèn)測(cè)量區(qū)域是否準(zhǔn)確,避免選擇樣品邊緣或反光區(qū)域作為測(cè)量對(duì)象;最后檢查掃描參數(shù)是否合適,低掃描密度可能導(dǎo)致細(xì)節(jié)捕捉不足,影響測(cè)量精度,可適當(dāng)提高掃描密度。
三維模型生成失敗:多為掃描范圍設(shè)置不當(dāng)導(dǎo)致,若 Z 軸范圍過小,可能未覆蓋樣品全部高度,需擴(kuò)大 Z 軸掃描范圍;若樣品表面反光過強(qiáng)或過弱,可調(diào)整光源參數(shù),改善圖像對(duì)比度,再重新嘗試掃描。
徠卡光學(xué)顯微鏡:兼容性參數(shù)與外接設(shè)備適配
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