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三維光學(xué)輪廓儀
布魯克
ContourX-200布魯克三維光學(xué)輪廓儀精準(zhǔn)匹配需求
布魯克三維光學(xué)輪廓儀精準(zhǔn)匹配需求在半導(dǎo)體領(lǐng)域,該設(shè)備用于測(cè)量硅晶圓薄膜厚度、光刻膠臺(tái)階高度及CMP后表面平整度,為工藝參數(shù)優(yōu)化提供數(shù)據(jù)支持。
布魯克三維光學(xué)輪廓儀精準(zhǔn)匹配需求
在半導(dǎo)體領(lǐng)域,該設(shè)備用于測(cè)量硅晶圓薄膜厚度、光刻膠臺(tái)階高度及CMP后表面平整度,為工藝參數(shù)優(yōu)化提供數(shù)據(jù)支持。精密制造行業(yè)通過(guò)其檢測(cè)刀具刃口磨損、注塑模具表面狀態(tài),建立磨損檔案以預(yù)測(cè)部件壽命。材料科學(xué)研究中,科研人員利用其表征復(fù)合材料、金屬合金、高分子薄膜的表面特性,分析涂層均勻性與厚度變化。學(xué)術(shù)教育領(lǐng)域,直觀的操作界面與可視化功能使其成為表面計(jì)量學(xué)教學(xué)演示設(shè)備。設(shè)備支持多區(qū)域自動(dòng)測(cè)量功能,用戶預(yù)設(shè)測(cè)量區(qū)域后,儀器可自動(dòng)完成數(shù)據(jù)采集,提升復(fù)雜測(cè)量效率。
設(shè)備支持手動(dòng)與半自動(dòng)雙模式操作。手動(dòng)模式下,操作人員通過(guò)微調(diào)旋鈕快速調(diào)整樣品位置與焦距,適配少量多批次樣品測(cè)量需求。半自動(dòng)模式可預(yù)設(shè)掃描范圍、分辨率等參數(shù),實(shí)現(xiàn)一鍵啟動(dòng)測(cè)量,減少重復(fù)操作。軟件系統(tǒng)提供自動(dòng)對(duì)焦、自動(dòng)亮度調(diào)節(jié)功能,確保快速獲取清晰圖像。數(shù)據(jù)采集后,VisionXpress支持多種濾鏡與分析工具,可生成定制化分析報(bào)告,滿足粗糙度、關(guān)鍵尺寸等測(cè)量需求。日常維護(hù)建議定期清潔光學(xué)鏡頭與樣品臺(tái),使用專用無(wú)塵布與鏡頭清潔劑,避免劃傷表面。設(shè)備應(yīng)放置在潔凈、干燥、無(wú)強(qiáng)氣流與振動(dòng)的環(huán)境中,定期進(jìn)行性能驗(yàn)證與校準(zhǔn),保障長(zhǎng)期數(shù)據(jù)一致性。
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