解密布魯克 ContourX-100：參數(shù)與用材細節(jié)

產(chǎn)品簡介

解密布魯克 ContourX-100：參數(shù)與用材細節(jié)
布魯克三維光學(xué)輪廓儀 ContourX-100 作為一款用于表面形貌測量的設(shè)備，在工業(yè)檢測、材料研發(fā)等領(lǐng)域應(yīng)用廣泛，其參數(shù)配置與用材選擇是保障測量效果和設(shè)備穩(wěn)定性的重要基礎(chǔ)。

產(chǎn)品型號：

更新時間：2025-10-13

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：22

產(chǎn)品咨詢 17701039158

產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

三維光學(xué)輪廓儀

布魯克 BEUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀 Sensofar 儀光新型共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR 3D光學(xué)輪廓儀 SENSOFAR共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR結(jié)構(gòu)光三維輪廓儀 SENSOFAR平面度測量干涉儀 ZYGO三維光學(xué)輪廓儀布魯克三維光學(xué)輪廓儀

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解密布魯克 ContourX-100：參數(shù)與用材細節(jié)

布魯克三維光學(xué)輪廓儀 ContourX-100 作為一款用于表面形貌測量的設(shè)備，在工業(yè)檢測、材料研發(fā)等領(lǐng)域應(yīng)用廣泛，其參數(shù)配置與用材選擇是保障測量效果和設(shè)備穩(wěn)定性的重要基礎(chǔ)。

解密布魯克 ContourX-100：參數(shù)與用材細節(jié)

核心參數(shù)方面，ContourX-100 的測量范圍覆蓋多個關(guān)鍵維度。垂直測量范圍能夠應(yīng)對從微小納米級臺階到一定毫米級高度差的測量需求，適配不同厚度、高度的樣品表面形貌分析；水平測量范圍則可根據(jù)樣品尺寸靈活調(diào)整，常規(guī)配置下能容納多數(shù)中小型樣品，同時支持通過擴展組件適配更大規(guī)格樣品，滿足多樣化測量場景。分辨率表現(xiàn)上，垂直分辨率可達到較低的納米級別，能捕捉到樣品表面細微的高度變化，水平分辨率也處于行業(yè)常用的精細水平，可清晰呈現(xiàn)樣品表面的微觀結(jié)構(gòu)細節(jié)。測量速度提供多檔調(diào)節(jié)模式，快速模式適合初步篩查與大面積樣品掃描，精細模式則用于獲取更詳實的微觀形貌數(shù)據(jù)，不同模式下的測量時間會依據(jù)樣品尺寸和參數(shù)設(shè)置有所差異，用戶可根據(jù)實驗需求靈活選擇。

用材選擇上，ContourX-100 的關(guān)鍵部件均經(jīng)過嚴格篩選。設(shè)備的光學(xué)鏡頭采用高透光率光學(xué)玻璃，經(jīng)過特殊鍍膜處理，能減少光線反射與折射損耗，確保測量過程中光學(xué)信號的穩(wěn)定傳輸，提升成像質(zhì)量與測量準確性。樣品臺選用高強度合金材料，表面經(jīng)過精密加工，平整度較高，可穩(wěn)定承載樣品，避免因樣品臺變形或不平整導(dǎo)致的測量誤差，同時合金材質(zhì)具備良好的耐磨性，長期使用后仍能保持穩(wěn)定性能。設(shè)備外殼采用防腐蝕、抗沖擊的金屬材質(zhì)，表面噴涂耐磨涂層，不僅能抵御實驗室或工業(yè)環(huán)境中常見的化學(xué)試劑侵蝕，還能在意外碰撞時保護內(nèi)部精密光學(xué)組件與電路系統(tǒng)，延長設(shè)備使用壽命。

此外，設(shè)備的傳動系統(tǒng)部件選用高精度耐磨材料，減少長期運行中的機械磨損，保障樣品臺移動、鏡頭調(diào)節(jié)等動作的平穩(wěn)性與準確性；內(nèi)部電路基板采用耐高溫、抗干擾的材質(zhì)，確保設(shè)備在不同環(huán)境溫度下穩(wěn)定運行，同時降低外界電磁信號對測量數(shù)據(jù)的干擾。這些參數(shù)與用材的合理搭配，為 ContourX-100 的穩(wěn)定運行和可靠測量性能提供了有力支撐，用戶在選擇和使用時，可結(jié)合自身樣品特性與實驗需求，充分發(fā)揮設(shè)備的參數(shù)優(yōu)勢和優(yōu)質(zhì)用材帶來的穩(wěn)定性能。

解密布魯克 ContourX-100：參數(shù)與用材細節(jié)

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