INSTEC HCP421V-MPS 參數(shù)與用材解讀
INSTEC HCP421V-MPS 通用迷你溫控探針臺,憑借緊湊設計與溫控功能,在電子元件測試、材料研發(fā)等場景中應用廣泛,其參數(shù)與用材是設備性能的重要支撐。
核心參數(shù)方面,該探針臺的溫控范圍覆蓋了常見測試需求,低溫度可降至零下數(shù)十攝氏度,最高溫度能達到兩百多攝氏度,滿足不同材料在高低溫環(huán)境下的性能測試。溫度控制精度處于合理區(qū)間,在設定溫度點附近,溫度波動可控制在幾攝氏度內,保障測試過程中溫度環(huán)境的穩(wěn)定性。探針配置上,支持多組探針同時使用,探針間距可根據(jù)樣品尺寸調節(jié),適配從微小芯片到小型元器件的測試需求。樣品臺尺寸雖為迷你設計,但也能容納常規(guī)規(guī)格的測試樣品,同時支持定制化樣品臺,滿足特殊尺寸樣品的測試需求。
用材選擇上,HCP421V-MPS 的關鍵部件經(jīng)過嚴格篩選。樣品臺采用導熱性能良好的金屬材質,這種材質能快速傳遞溫度,確保樣品受熱或受冷均勻,減少因溫度分布不均導致的測試誤差。探針選用導電性優(yōu)良且硬度較高的合金材料,既保證了電信號傳輸?shù)姆€(wěn)定性,又能在長期接觸樣品過程中減少磨損,延長探針使用壽命。設備外殼采用耐溫且絕緣的塑料材質,不僅能隔絕內部溫度對外部環(huán)境的影響,還能防止操作人員觸電,提升使用安全性。
此外,設備的溫控系統(tǒng)管路采用密封性良好的材質,避免制冷劑或加熱介質泄漏,保障溫控系統(tǒng)的正常運行;內部電路組件選用耐高溫、抗干擾的電子元件,確保設備在高低溫循環(huán)測試中仍能穩(wěn)定工作,減少環(huán)境因素對電路性能的影響。這些參數(shù)與用材的搭配,讓 HCP421V-MPS 在迷你體型下,仍具備可靠的性能,用戶在使用時可結合測試需求,充分利用設備的參數(shù)優(yōu)勢與優(yōu)質用材帶來的穩(wěn)定體驗INSTEC HCP421V-MPS 參數(shù)與用材解讀