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PRODUCTS CNTERZYGO 3D光學輪廓儀光學元件檢測應用光學透鏡(如相機鏡頭、顯微鏡物鏡)的表面粗糙度、曲率半徑直接影響成像質量,需測量表面 Ra 值(≤0.01μm)、曲率半徑(差≤0.1%),確保無劃痕、凹陷等缺陷
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ZYGO 3D光學輪廓儀光學元件檢測應用
硬件選擇:根據透鏡尺寸選物鏡,小口徑透鏡(直徑≤5mm)用 20X 物鏡(水平分辨率 0.8μm),大口徑透鏡(直徑>5mm)用 10X 物鏡(覆蓋更大范圍);
參數設置:掃描范圍 1-5mm×1-5mm(匹配透鏡測量區(qū)域),數據點密度 1000 點 /mm2(捕捉微觀粗糙度),開啟 “偏振光" 功能(減少透明透鏡反光干擾);
測量流程:用專用夾具固定透鏡(避免按壓變形),自動對焦后掃描(約 25 秒 / 次),軟件生成 3D 表面形貌圖。
軟件計算 Ra 值,若超 0.01μm,反饋至透鏡拋光工藝(調整拋光輪轉速、磨料粒度);
選擇 “曲率分析" 模塊,自動擬合透鏡曲面,輸出曲率半徑數據(如 R=20.05mm),與設計值(20mm)對比,偏差超 0.1% 需重新加工。
硬件選擇:選用 50X 物鏡(垂直分辨率 0.05nm,精準捕捉薄膜層間信號),搭配白光干涉模塊;
參數設置:掃描范圍 0.2mm×0.2mm(薄膜局部區(qū)域),數據點密度 1200 點 /mm2,開啟 “薄膜分析" 專用算法;
測量流程:將薄膜樣品(如玻璃基底鍍膜)放在樣品臺,掃描后軟件自動識別薄膜上下表面(基于折射率差異),計算厚度值。
軟件生成厚度分布熱力圖,標注厚度偏差超 5nm 的區(qū)域(如邊緣區(qū)域厚度 480nm,中心 495nm),指導鍍膜工藝調整(如優(yōu)化鍍膜機靶材位置);
統計整片薄膜的厚度均勻性(如平均厚度 490nm,偏差 ±3nm),作為薄膜合格判定依據。
硬件選擇:選用 10X 物鏡(覆蓋棱鏡表面與棱角區(qū)域),搭配自動樣品臺(便于多角度測量);
參數設置:掃描范圍 3mm×3mm(含棱鏡棱角與表面),數據點密度 800 點 /mm2,開啟 “缺陷識別" 功能(閾值設為劃痕寬度≥1μm);
測量流程:自動樣品臺移動至棱鏡不同區(qū)域(表面、棱角),分次掃描(約 30 秒 / 區(qū)域),軟件整合多區(qū)域數據。
軟件測量棱鏡棱角角度(如直角棱鏡 90.05°),偏差超 0.1° 需重新研磨棱角;
自動標紅劃痕缺陷(如寬度 1.2μm 的劃痕),統計缺陷數量,超 3 處 / 片需返修。
光學元件表面禁觸碰,需戴無塵手套操作,避免指紋、灰塵污染測量區(qū)域;
測量透明元件時,確保樣品臺水平(用水平儀校準),防止樣品傾斜導致測量偏差;
不同材質元件(如玻璃、塑料基底)需調整 “折射率參數"(軟件內置常見材質折射率數據庫),確保厚度、曲率計算準確。
ZYGO 3D光學輪廓儀光學元件檢測應用