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Sensofar白光干涉儀多技術(shù)融合精密檢測方案

產(chǎn)品簡介

Sensofar白光干涉儀多技術(shù)融合精密檢測方案
S neox作為Sensofar推出的新一代3D共聚焦白光干涉光學(xué)輪廓儀,通過共聚焦、白光干涉與多焦面疊加技術(shù)的協(xié)同工作,構(gòu)建了多維度精密檢測體系。

產(chǎn)品型號:S?neox
更新時間:2025-10-15
廠商性質(zhì):代理商
訪問量:10
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  Sensofar白光干涉儀多技術(shù)融合精密檢測方案


S neox作為Sensofar推出的新一代3D共聚焦白光干涉光學(xué)輪廓儀,通過共聚焦、白光干涉與多焦面疊加技術(shù)的協(xié)同工作,構(gòu)建了多維度精密檢測體系。其核心光學(xué)模塊采用高純度熔融石英透鏡組,透光率超92%,配合氟化鎂與氧化硅復(fù)合增透膜,反射率控制在0.5%以下,有效抑制雜散光干擾。設(shè)備支持2.5x至100x物鏡的模塊化配置,垂直分辨率達0.1nm,橫向分辨率0.1μm,可適配從微米級到毫米級的檢測需求。機身采用高強度鋁合金框架與鑄鐵底座組合結(jié)構(gòu),抗振動性能優(yōu)異,適應(yīng)實驗室與生產(chǎn)車間環(huán)境。配套SensoSCAN軟件提供實時3D渲染、多格式數(shù)據(jù)導(dǎo)出及ISO標準分析模塊,支持PV、Rq等參數(shù)自動計算并生成檢測報告。在半導(dǎo)體封裝檢測中,設(shè)備可同步獲取焊點高度、直徑與傾斜角,重復(fù)性誤≤0.3%,滿足5μm級金線虛焊缺陷識別需求;在光學(xué)元件制造中,白光干涉模式可精準測量透鏡曲率半徑與面型誤差,PV值檢測閾值可自定義設(shè)置,偏差區(qū)域自動標記并生成分析報告。設(shè)備還支持時間序列掃描功能,可追蹤細胞遷移軌跡或薄膜厚度動態(tài)變化,為生物醫(yī)學(xué)研究提供時間維度數(shù)據(jù)支持。


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