電子元件檢測幫手：Zygo激光干涉光學輪廓儀
電子元件如芯片封裝、連接器的表面質量與尺寸精度，直接影響電子設備的性能與穩(wěn)定性，Zygo 3D 光學輪廓儀 NewView™ 9000 能精準檢測電子元件關鍵部位，成為電子元件生產質檢的實用幫手。
產品細節(jié)上，NewView™ 9000 配備電子元件專用夾具，可固定芯片、連接器、電容等不同類型的電子元件，夾具設計貼合元件外形，避免檢測時損傷元件引腳或封裝結構。設備的光學鏡頭可快速切換倍率，既能觀察電子元件的整體外觀，也能聚焦到引腳間距、封裝膠體高度等關鍵細節(jié)。操作軟件中設有 “電子元件檢測模板"，包含引腳共面度、封裝厚度等常見檢測項目，一鍵調用即可啟動檢測。
性能方面，該設備的非接觸式檢測方式，不會對電子元件的精密結構造成物理損傷，適合檢測脆弱的芯片封裝與細小引腳。在檢測引腳共面度時，能快速測量多個引腳的高度差，精度滿足電子元件的行業(yè)標準。檢測數據可自動生成報表，標注不合格的元件與缺陷位置，方便質檢人員快速篩選。
用材上，NewView™ 9000 的夾具采用防靜電材料，避免靜電損壞電子元件，尤其適合芯片等敏感元件的檢測。設備內部的光學部件經過防塵處理，減少電子元件生產環(huán)境中粉塵對檢測精度的影響。
以下是 Zygo 3D 光學輪廓儀 NewView™ 9000 的部分參數表：
用途上，它可用于芯片封裝的引腳共面度檢測、連接器的插針高度測量、電容電阻的封裝尺寸驗證等。在電子元件研發(fā)中，能幫助工程師觀察新結構元件的成型效果，優(yōu)化設計方案；在生產車間，可作為出廠質檢設備，保障電子元件質量
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