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Sensofar共聚焦白光干涉儀|共聚焦技術(shù)共聚焦輪廓儀專(zhuān)為測(cè)量光滑表面到極粗糙表面而開(kāi)發(fā)。共聚焦輪廓提供更佳的橫向分辨率，可達(dá)0.15μm線(xiàn)條和空間，空間采樣可減少到0.01μm，這是關(guān)鍵尺寸測(cè)量的理想選擇。背景Sensofar共聚焦白光干涉儀|共聚焦技術(shù)共聚焦技術(shù)能夠測(cè)量表面高度，將常規(guī)圖像轉(zhuǎn)換成光學(xué)剖面，其中，物鏡焦深范圍內(nèi)的那些區(qū)域的信號(hào)被保留，改善了圖像對(duì)比度、橫向分辨率和系統(tǒng)噪聲。光學(xué)方案對(duì)于3D成像，必須從相機(jī)的所有像素獲取數(shù)據(jù)。這意味著：重新構(gòu)建共聚焦圖像。為...

Sensofar共聚焦白光干涉儀|白光干涉技術(shù)Sensofar共聚焦白光干涉儀為了測(cè)量非常光滑的表面到中等粗糙表面的表面高度，開(kāi)發(fā)了干涉技術(shù)，可在任何放大倍率下實(shí)現(xiàn)相同的系統(tǒng)噪聲。對(duì)于PSI，它可實(shí)現(xiàn)優(yōu)于0.01nm的系統(tǒng)噪聲。背景干涉工作原理干涉技術(shù)的工作原理是：將光分成光學(xué)傳播路徑不同的兩個(gè)光束，然后再合并，從而產(chǎn)生干涉。干涉物鏡允許顯微鏡作為干涉儀而工作；焦點(diǎn)對(duì)準(zhǔn)后，可在樣本上觀察到條紋。光學(xué)方案PSI的光學(xué)方案與FV具有相同配置，但是現(xiàn)在采用干涉物鏡而不是明場(chǎng)。為了獲...

Sensofar共聚焦白光干涉儀|光譜反射技術(shù)光譜反射能快速、精確、無(wú)損地測(cè)量薄膜，且無(wú)需制備任何樣本。背景薄膜透明層沉積在表面上時(shí)，其反射率會(huì)變化。該系統(tǒng)獲取可見(jiàn)范圍內(nèi)樣本的反射光譜，并與軟件計(jì)算的模擬光譜進(jìn)行比較，對(duì)層厚進(jìn)行修改，直到找到匹配的厚度。對(duì)于薄膜，厚度與光波長(zhǎng)類(lèi)似，我們沿著光譜獲得波浪狀的反射率響應(yīng)。主要特征從50nm到1.5μm厚的透明薄膜可在不到5秒的時(shí)間內(nèi)測(cè)得從50nm到1.5μm厚的透明薄膜不到5秒內(nèi)采集一個(gè)物鏡可覆蓋整個(gè)范圍不同光斑大小(3.5μm到...

只需幾秒鐘即可完成圖像采集、記錄和共享徠卡顯微系統(tǒng)公司推出的新型FLEXACAMC1顯微鏡攝像頭能夠讓用戶(hù)更加省時(shí)省力地采集、記錄和共享圖像。它將顯微鏡轉(zhuǎn)變成無(wú)需計(jì)算機(jī)的獨(dú)立式數(shù)字成像工作站。用戶(hù)只需將攝像頭連接到所需的觀察設(shè)備和網(wǎng)絡(luò)，即可開(kāi)始進(jìn)行日常成像工作。FLEXACAMC1攝像頭集成了屏幕信息顯示(OSD)功能，用戶(hù)可以直接通過(guò)顯示器進(jìn)行調(diào)節(jié)和操作。它還提供直觀的標(biāo)注、疊加和網(wǎng)絡(luò)工具，用戶(hù)可以更靈活地改進(jìn)圖像記錄。這款新型的獨(dú)立式顯微鏡攝像頭可按照用戶(hù)需要的工作場(chǎng)所布...

全3D測(cè)量解決方案，Sneox五軸SensofarMetrology宣布在其**非接觸式3D表面測(cè)量系統(tǒng)中新增一款“五軸”。新型3D光學(xué)輪廓儀結(jié)合了高精度旋轉(zhuǎn)模塊和高分辨率平移平臺(tái)，以及先進(jìn)的檢測(cè)和分析功能。這樣就可以在定義的位置（透視）進(jìn)行自動(dòng)3D表面測(cè)量，這些位置（透視）組合在一起可以創(chuàng)建完整的3D體積測(cè)量，非常適合微加工、增材制造、工具和醫(yī)療技術(shù)應(yīng)用。新的“五軸”還集成了幾種特殊的采集模式，旨在補(bǔ)充和利用運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)的功能。手動(dòng)模式通過(guò)高精度定位測(cè)量單個(gè)視場(chǎng)（FOV），而網(wǎng)...

LeicaMicrosystems推出3D輪廓測(cè)量解決方案—DCM8LeicaMicrosystems推出了用于非破壞性三維輪廓測(cè)量的LeicaDCM8。該儀器是一款結(jié)合了共聚焦和干涉技術(shù)的光學(xué)輪廓儀，因此，能夠?qū)崿F(xiàn)兩種技術(shù)的優(yōu)勢(shì)：高清晰度共聚焦顯微鏡能實(shí)現(xiàn)較高的橫向分辨率，干涉技術(shù)能實(shí)現(xiàn)納米級(jí)的垂直分辨率。這兩種技術(shù)在眾多研究和生產(chǎn)環(huán)境中對(duì)材料和部件的輪廓分析都十分重要。結(jié)構(gòu)錯(cuò)綜復(fù)雜且具有高斜率區(qū)域的表面需要達(dá)到幾微米的橫向分辨率。相對(duì)而言，具有極小關(guān)鍵峰谷的極其光滑的拋光...

用于法醫(yī)鑒定應(yīng)用的非接觸式光學(xué)輪廓儀法醫(yī)鑒定中的一項(xiàng)常見(jiàn)任務(wù)就是要將在**現(xiàn)場(chǎng)發(fā)現(xiàn)的**聯(lián)系到某一特定的**。通過(guò)槍筒內(nèi)的來(lái)復(fù)線(xiàn)，在開(kāi)槍過(guò)程中**上會(huì)留下擦痕印記。這些印記能提供詳細(xì)的信息，用于確定某個(gè)特定的**是否來(lái)自于某一嫌疑**。通常，經(jīng)驗(yàn)豐富的法醫(yī)會(huì)使用比較顯微鏡來(lái)客觀地確定未知的證據(jù)**和已知的試槍**之間的痕跡是否一致。為了增強(qiáng)這些結(jié)論的科學(xué)依據(jù)，位于美國(guó)亞拉巴馬州胡佛的阿拉巴馬州法庭科學(xué)部（ADFS）的研究者們應(yīng)用了Sensofar（西班牙Terrassa）出產(chǎn)...

半導(dǎo)體和微電子行業(yè)概述–AlbertoAguerri訪(fǎng)談Sensofar的銷(xiāo)售副總裁AlbertoAguerri最近接受了AZONetwork編輯AdamKing的采訪(fǎng)，內(nèi)容涉及半導(dǎo)體和微電子行業(yè)的光學(xué)計(jì)量解決方案。AZONetwork是一個(gè)在線(xiàn)平臺(tái)，提供與材料工程、光學(xué)、傳感器和納米技術(shù)、醫(yī)療、生命科學(xué)等相關(guān)的行業(yè)特定網(wǎng)站......您能否首先向我們的讀者簡(jiǎn)要介紹一下Sensofar和公司的運(yùn)營(yíng)領(lǐng)域？Sensofar成立于2001年，在亞洲、歐洲和美國(guó)擁有龐大的全球足跡。該...