Sensofar 便捷測量的實用之選

產品簡介

Sensofar 便捷測量的實用之選
對于科研人員深入探索材料微觀結構與性能的需求，Sensofar 三維共聚焦白光干涉光學輪廓儀提供了*的測量手段與豐富的數據支持。

產品型號：

更新時間：2025-08-25

廠商性質：代理商

訪問量：30

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產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

三維光學輪廓儀

BEUKER白光干涉光學輪廓儀 Sensofar 儀光新型共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR 3D光學輪廓儀 SENSOFAR共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR結構光三維輪廓儀 SENSOFAR平面度測量干涉儀 ZYGO三維光學輪廓儀布魯克三維光學輪廓儀

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對于科研人員深入探索材料微觀結構與性能的需求，Sensofar 三維共聚焦白光干涉光學輪廓儀提供了*的測量手段與豐富的數據支持。Sensofar 科研探索的得力伙伴

產品細節(jié)

設計緊湊且靈活，便于在科研實驗室的有限空間內安置與使用。操作界面具備高度的可定制性，科研人員可根據實驗需求自定義測量流程與參數設置。樣品臺配備高精度的微調裝置，能精確調整樣品的位置與角度，滿足科研實驗中對測量位置的嚴苛要求。設備還具備良好的擴展性，可根據不同實驗需求，外接多種輔助設備，如溫度控制裝置、樣品拉伸裝置等。

產品性能

該輪廓儀融合了*的共聚焦與白光干涉技術，能夠提供高分辨率的三維表面形貌圖像。在科研測量中，其測量精度高、穩(wěn)定性強，多次測量結果的一致性好，可有效減少實驗誤差。對于新型材料、納米結構等復雜樣品，它能清晰呈現微觀結構細節(jié)，為科研人員提供深入研究的基礎數據。

用材講究

核心光學元件選用*的光學材料，具備光學性能，確保成像清晰、測量準確。設備內部的電子元件采用高品質、低噪聲的產品，提升數據采集與處理的穩(wěn)定性。機械結構部分采用輕質、高強度的合金材料，在保證設備整體穩(wěn)定性的同時，減輕了重量，方便移動與調整。

參數詳情

參數項	具體數值
分辨率	橫向可達 0.1μm，縱向亞納米級（干涉模式）
測量范圍	可根據實驗需求靈活調整，滿足不同樣品尺寸
數據存儲	具備大容量數據存儲功能，方便實驗數據保存
擴展性	支持多種外接設備接口
測量模式	多種測量模式可選，適應不同科研場景

廣泛用途

在材料科學研究中，可用于研究新型納米材料的表面形貌、生長機制，探索材料性能與微觀結構的關系；在生物醫(yī)學科研中，對生物組織、細胞表面的微觀結構進行觀察與測量，為疾病診斷與治療研究提供依據；在物理化學領域，分析材料表面的化學反應過程、吸附現象等，助力基礎科學研究的深入開展。

使用說明

使用前，將設備放置在光學平臺或其他減震效果良好的工作臺上，避免振動對測量精度的影響。連接好外接設備（如有），并進行設備初始化與校準操作。根據實驗設計，在操作界面設置好測量參數，包括測量模式、掃描范圍、采樣密度等。放置樣品時，利用樣品臺的微調裝置將樣品精確調整到測量位置。測量過程中，保持實驗室環(huán)境安靜、穩(wěn)定，避免人員走動等外界干擾。測量結束后，及時保存實驗數據，并對設備進行清潔與整理。定期對設備進行全面校準與維護，確保其性能始終處于優(yōu)良狀態(tài)，為科研工作提供可靠的測量保障。憑借出色的性能與高度的靈活性，Sensofar 成為科研人員探索微觀世界的得力伙伴，助力科研工作取得更多突破。Sensofar 科研探索的得力伙伴

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