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Sensofar輪廓儀微觀世界的多面探索者

產品簡介

Sensofar輪廓儀微觀世界的多面探索者
在材料研究、半導體制造等領域,對微觀世界的精確觀測是推動技術發(fā)展的重要基礎。

產品型號:S neox
更新時間:2025-08-22
廠商性質:代理商
訪問量:29
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在材料研究、半導體制造等領域,對微觀世界的精確觀測是推動技術發(fā)展的重要基礎。Sensofar 三維共聚焦白光干涉光學輪廓儀中的 S neox 型號,憑借其融合共聚焦、干涉和多焦面疊加的復合技術,在各類表面測量場景中展現(xiàn)出優(yōu)勢。Sensofar輪廓儀微觀世界的多面探索者
共聚焦技術部分,其橫向分辨率可達 0.10um,這一性能讓臨界尺寸測量變得更為可靠。例如在測量光滑表面時,能應對斜率達 70° 的工況,而面對粗糙表面,斜率適應能力可提升至 86°,無論是精密零件的微小凹槽還是復合材料的復雜紋理,都能清晰捕捉。干涉技術則包含相位差干涉和白光干涉兩種模式:相位差干涉專注于光滑表面的高度形貌測量,亞納米級的精度在不同放大倍數(shù)下均能保持穩(wěn)定,即便是納米級的臺階高度差異也能被識別;白光干涉則以納米級測量精度適用于更多樣化的表面類型,從光學鏡片的拋光面到金屬工件的切削面,都能提供準確的高度數(shù)據(jù)。多焦面疊加技術專為粗糙表面設計,不僅測量速度較快,且對大斜率表面的適應能力可達 86°,解決了傳統(tǒng)光學測量在粗糙表面易出現(xiàn)的信息丟失問題。
設備的核心光學元件選用高透光率的優(yōu)質光學材料,配合精密鍍膜工藝,減少光線反射與散射,確保成像清晰度。機械結構采用輕質高強度合金,在保證整體穩(wěn)定性的同時,降低了設備搬運與安裝的難度。在應用方面,它可對金屬、非金屬、復合材料等多種材料表面進行二維和三維觀察測量,尤其在亞納米級粗糙度分析中表現(xiàn)突出。配套的分析軟件支持三維視圖的多角度觀察,能自動測量表面結構的高度、寬度、粗糙度等參數(shù),并生成包含數(shù)據(jù)圖表與三維圖像的詳細報告,為后續(xù)分析與決策提供直觀依據(jù)。Sensofar輪廓儀微觀世界的多面探索者

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