Sensofar S wide一次掃全大尺寸樣品測(cè)量?jī)x
一、大視野設(shè)計(jì):解決 “多次拼接" 的檢測(cè)痛點(diǎn)
在檢測(cè)大尺寸樣品(如電路板、光學(xué)鏡片、模具型腔)時(shí),傳統(tǒng) 3D 輪廓儀常因視野有限,需要多次掃描后拼接數(shù)據(jù),不僅耗時(shí)久,還可能因拼接偏差影響結(jié)果準(zhǔn)確性。而 Sensofar S wide 的核心優(yōu)勢(shì)就在于 “大視野檢測(cè)能力",無(wú)需反復(fù)移動(dòng)樣品,一次掃描就能覆蓋更大區(qū)域,讓檢測(cè)效率大幅提升。
比如檢測(cè)一塊 300mm×200mm 的電路板時(shí),傳統(tǒng)設(shè)備可能需要分 10 次以上掃描,再手動(dòng)拼接數(shù)據(jù),整個(gè)過(guò)程耗時(shí)近 1 小時(shí);而 S wide 憑借優(yōu)化的光學(xué)系統(tǒng)與大視野鏡頭,一次掃描就能覆蓋電路板全貌,僅需 15 分鐘左右就能完成檢測(cè),且避免了拼接帶來(lái)的誤差風(fēng)險(xiǎn)。這種設(shè)計(jì)尤其適合需要完整呈現(xiàn)樣品表面形貌的場(chǎng)景,比如觀察電路板上元件的整體分布狀態(tài),或檢測(cè)模具型腔的整體平整度,不用再通過(guò) “局部數(shù)據(jù)拼湊全局"。
二、細(xì)節(jié)捕捉:大視野不丟精細(xì)度
很多人會(huì)擔(dān)心 “視野大了,細(xì)節(jié)就模糊了",但 S wide 在設(shè)計(jì)時(shí)平衡了 “視野范圍" 與 “細(xì)節(jié)捕捉能力"。其搭載的高分辨率成像模塊,即使在大視野模式下,也能清晰呈現(xiàn)樣品表面的微小結(jié)構(gòu) —— 比如檢測(cè)汽車儀表盤模具時(shí),既能一次掃全整個(gè)模具型腔(視野覆蓋直徑 100mm 以上區(qū)域),又能清晰捕捉型腔表面 0.1μm 級(jí)別的細(xì)微劃痕,不用在 “看全局" 和 “看細(xì)節(jié)" 之間做取舍。
這種能力源于設(shè)備對(duì)光學(xué)系統(tǒng)的優(yōu)化:鏡頭采用多組高透光率鏡片,搭配專用的光源調(diào)節(jié)技術(shù),能在大視野范圍內(nèi)保持均勻的光照,避免邊緣區(qū)域因光線不足導(dǎo)致細(xì)節(jié)模糊;數(shù)據(jù)采集模塊支持高像素密度輸出,確保掃描區(qū)域內(nèi)每個(gè)點(diǎn)位的信息都能被精準(zhǔn)記錄。無(wú)論是檢測(cè)大面積的金屬板材表面粗糙度,還是觀察大尺寸玻璃的整體平整度,都能同時(shí)兼顧 “全局覆蓋" 與 “細(xì)節(jié)精準(zhǔn)"。
三、操作與場(chǎng)景:適配多行業(yè)需求
S wide 的操作設(shè)計(jì)也圍繞 “大樣品檢測(cè)" 做了優(yōu)化。樣品臺(tái)采用加寬加固設(shè)計(jì),能穩(wěn)定承載重量較大的樣品(如厚重模具、大型光學(xué)鏡片),避免檢測(cè)過(guò)程中樣品移位。軟件內(nèi)置 “大視野專屬模式",選擇后系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)匹配合適的掃描參數(shù),無(wú)需手動(dòng)調(diào)整焦距或光源,新手也能快速上手。
在行業(yè)應(yīng)用上,它適配多個(gè)領(lǐng)域的大尺寸樣品檢測(cè)需求:電子行業(yè)可檢測(cè)大尺寸柔性電路板的表面形貌,判斷是否存在影響導(dǎo)通的凸起或凹陷;光學(xué)行業(yè)能檢測(cè)大直徑光學(xué)鏡片的整體平整度,為鏡片加工工藝優(yōu)化提供參考;模具行業(yè)可完整掃描大型模具的型腔與分型面,及時(shí)發(fā)現(xiàn)影響產(chǎn)品質(zhì)量的表面缺陷。
無(wú)論是需要提升大尺寸樣品的檢測(cè)效率,還是希望同時(shí)獲取樣品的全局與細(xì)節(jié)數(shù)據(jù),Sensofar S wide 都能通過(guò)其大視野設(shè)計(jì)與穩(wěn)定性能,成為解決大尺寸樣品檢測(cè)難題的實(shí)用工具,讓 “一次掃全、精準(zhǔn)高效" 的檢測(cè)體驗(yàn)成為常態(tài)。
Sensofar S wide一次掃全大尺寸樣品測(cè)量?jī)x