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三維光學(xué)輪廓儀
BEUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀
布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀研發(fā)到產(chǎn)線應(yīng)用 布魯克白光干涉儀的應(yīng)用范圍覆蓋了從前沿科學(xué)研究到工業(yè)化生產(chǎn)的多個(gè)環(huán)節(jié)。
布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀自動(dòng)化軟件分析 在工業(yè)生產(chǎn)與科學(xué)研究中,待測(cè)樣品表面往往具有復(fù)雜的特性,如高陡坡、透明薄膜或顯著的反光差異,這對(duì)測(cè)量設(shè)備提出了要求。布魯克白光干涉儀通過一系列技術(shù)設(shè)計(jì),來應(yīng)對(duì)這些挑戰(zhàn)。
布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀應(yīng)對(duì)復(fù)雜表面測(cè)量 白光干涉技術(shù),作為一種非接觸式的光學(xué)測(cè)量方法,為微觀世界的表面形貌分析提供了有效工具。
認(rèn)識(shí)布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀 白光干涉技術(shù),作為一種非接觸式的光學(xué)測(cè)量方法,為微觀世界的表面形貌分析提供了有效工具。
布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀納米級(jí)測(cè)量新選擇 布魯克 Dimension Edge 白光干涉光學(xué)輪廓儀,專注納米級(jí)微觀測(cè)量,為高精度檢測(cè)需求提供支持。
布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀工業(yè)檢測(cè)得力助手 布魯克 ContourX - 1000 白光干涉光學(xué)輪廓儀,專為工業(yè)檢測(cè)場(chǎng)景設(shè)計(jì),兼顧精度與效率,助力生產(chǎn)線質(zhì)量控制。
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