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三維光學(xué)輪廓儀
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SensofarS neox的細節(jié)與性能表現(xiàn) 要深入了解Sensofar S neox的特點,需要關(guān)注其實現(xiàn)多模式測量的技術(shù)細節(jié)和由此帶來的性能表現(xiàn)。
Sensofar S neox:多模式測量平臺 Sensofar S neox 3D光學(xué)輪廓儀的設(shè)計理念是集成與靈活。它并非單一技術(shù)儀器,而是一個將共聚焦成像、白光干涉(VSI)和相移干涉(PSI)三種核心技術(shù)融于一身的多模式測量平臺.
探索Sensofar光學(xué)輪廓技術(shù) Sensofar Metrology作為光學(xué)測量領(lǐng)域的參與者,其S neox和LIN系列三維光學(xué)輪廓儀集成了多種光學(xué)測量技術(shù),包括共聚焦、白光干涉(VSI)和相移干涉(PSI),為微觀表面的三維形貌測量提供了多樣的解決方案。
詳解布魯克ContourX系列輪廓儀核心技術(shù) 布魯克ContourX系列三維光學(xué)輪廓儀的測量能力,源于其核心的白光干涉技術(shù)(WLI)和穩(wěn)健的機械設(shè)計。理解這些技術(shù)細節(jié),有助于用戶更好地發(fā)揮儀器的潛能。
布魯克ContourX輪廓儀專注高效小樣品檢測 在需要處理較大型工件的研發(fā)與質(zhì)量檢測環(huán)節(jié),對測量設(shè)備的樣品容量提出了要求。布魯克ContourX-100三維光學(xué)輪廓儀正是為滿足此類需求而設(shè)計。
布魯克ContourX系列輪廓儀平衡性能與靈活性 在需要處理較大型工件的研發(fā)與質(zhì)量檢測環(huán)節(jié),對測量設(shè)備的樣品容量提出了要求。布魯克ContourX-500三維光學(xué)輪廓儀正是為滿足此類需求而設(shè)計。
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