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澤攸電鏡多功能原位分析電鏡 澤攸 電鏡是一款集多種原位分析功能于一體的設(shè)備，能在電鏡內(nèi)模擬樣品的服役環(huán)境，實(shí)時(shí)觀(guān)察樣品在溫度、應(yīng)力、電場(chǎng)等外部條件作用下的微觀(guān)結(jié)構(gòu)變化。設(shè)備采用高穩(wěn)定性電子光學(xué)系統(tǒng)，確保在原位實(shí)驗(yàn)過(guò)程中仍能保持良好的成像質(zhì)量。

澤攸電鏡高分辨率成像的電鏡 澤攸電鏡以高分辨率成像為核心優(yōu)勢(shì)，采用場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)娮邮炼雀?、束斑小，能捕捉到更?xì)微的微觀(guān)結(jié)構(gòu)。電子槍真空度達(dá)到 1×10??Pa，減少了電子與氣體分子的碰撞，延長(zhǎng)了電子槍的使用壽命。

澤攸電鏡集成化分析的電鏡系統(tǒng) 在半導(dǎo)體行業(yè)，EM2000 可用于芯片表面的缺陷檢測(cè)，快速定位劃痕、污染等問(wèn)題；在材料科學(xué)領(lǐng)域，能觀(guān)察復(fù)合材料的界面結(jié)構(gòu)，分析相分布情況；在地質(zhì)研究中，可識(shí)別礦物顆粒的微觀(guān)形態(tài)，輔助礦物鑒定。其高效的工作能力與精準(zhǔn)的成像效果，為各領(lǐng)域的研究與生產(chǎn)提供了有力支持。

澤攸電鏡兼顧效率與細(xì)節(jié)的電鏡 在半導(dǎo)體行業(yè)，EM2000 可用于芯片表面的缺陷檢測(cè)，快速定位劃痕、污染等問(wèn)題；在材料科學(xué)領(lǐng)域，能觀(guān)察復(fù)合材料的界面結(jié)構(gòu)，分析相分布情況；在地質(zhì)研究中，可識(shí)別礦物顆粒的微觀(guān)形態(tài)，輔助礦物鑒定。其高效的工作能力與精準(zhǔn)的成像效果，為各領(lǐng)域的研究與生產(chǎn)提供了有力支持。

澤攸電鏡微觀(guān)世界的清晰窗口 澤攸 電鏡作為一款基礎(chǔ)型掃描電鏡，在材料表面觀(guān)察領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。其核心電子光學(xué)系統(tǒng)采用高品質(zhì)磁透鏡，通過(guò)多層線(xiàn)圈纏繞技術(shù)，形成均勻的磁場(chǎng)分布，為電子束的聚焦提供穩(wěn)定條件。

澤攸 集成化的臺(tái)階測(cè)量方案 澤攸臺(tái)階儀憑借靈活的配置，可適應(yīng)多樣化的測(cè)量需求。其采用模塊化設(shè)計(jì)，傳感器與工作臺(tái)均可根據(jù)樣品特性更換，提升設(shè)備的適用范圍。