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ZEM18臺(tái)式掃描電子顯微鏡信號(hào)采集帶寬高達(dá)10M,掃描速度快,視頻模式下實(shí)時(shí)觀察樣品,無(wú)重影、拖影,不錯(cuò)過每一個(gè)細(xì)節(jié)。
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測(cè)量系統(tǒng),是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量,并可在電學(xué)測(cè)量的同時(shí),動(dòng)態(tài)、高分辨地對(duì)樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價(jià)態(tài)進(jìn)行綜合表征,大大地?cái)U(kuò)展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。
澤攸透射電鏡原位MEMS加熱/電學(xué)測(cè)量系統(tǒng),透射電子顯微鏡是提供在較高時(shí)間分辨率下得到原子級(jí)空間分辨率的實(shí)驗(yàn)手段。
澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測(cè)量系統(tǒng),是在標(biāo)配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊,實(shí)現(xiàn)低溫電學(xué)測(cè)量或全溫區(qū)測(cè)量功能。
澤攸透射電鏡原位MEMS液體電化學(xué)測(cè)量系統(tǒng),采用全新的O圈輔助密封設(shè)計(jì),更易封裝液體。實(shí)驗(yàn)中,樣品被密封在很薄氮化硅薄膜覆蓋的液體池內(nèi),池內(nèi)可以承載一個(gè)大氣壓。芯片電極聯(lián)通外接電路,從而在電鏡中搭建一個(gè)液體-電化學(xué)測(cè)試環(huán)境。
澤攸透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測(cè)量系統(tǒng),在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環(huán)境,實(shí)現(xiàn)1 Bar & 800 ℃的端觀測(cè)條件。
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