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澤攸 ZEM20:工業(yè)研發(fā)顯微表征平臺 制造業(yè)的研發(fā)環(huán)節(jié)(如半導(dǎo)體、航空航天、醫(yī)療器械),對產(chǎn)品微觀結(jié)構(gòu)的超高分辨率表征與多維度分析是提升產(chǎn)品性能、突破技術(shù)瓶頸的關(guān)鍵。澤攸臺式掃描電子顯微鏡 ZEM20,憑借性能與強(qiáng)大的擴(kuò)展能力,成為工業(yè)研發(fā)的核心顯微表征平臺。
澤攸 ZEM20:科研顯微研究平臺 在高校重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室、科研機(jī)構(gòu)的研究中,對微觀結(jié)構(gòu)的超高分辨率分析與多維度表征是突破科研瓶頸的關(guān)鍵。澤攸臺式掃描電子顯微鏡 ZEM20,憑借性能與豐富的擴(kuò)展功能,成為開展前沿微觀研究的高級平臺。
澤攸 ZEM18:科研機(jī)構(gòu)微觀分析利器 對于經(jīng)費(fèi)有限、空間緊張的小型科研團(tuán)隊(duì)或初創(chuàng)企業(yè),澤攸臺式掃描電子顯微鏡 ZEM15 以其高性價(jià)比與易維護(hù)性,成為微觀分析工作的實(shí)用工具,助力完成基礎(chǔ)科研與產(chǎn)品研發(fā)中的顯微觀察任務(wù)。
澤攸 ZEM18:工業(yè)質(zhì)檢顯微檢測助手 對于經(jīng)費(fèi)有限、空間緊張的小型科研團(tuán)隊(duì)或初創(chuàng)企業(yè),澤攸臺式掃描電子顯微鏡 ZEM15 以其高性價(jià)比與易維護(hù)性,成為微觀分析工作的實(shí)用工具,助力完成基礎(chǔ)科研與產(chǎn)品研發(fā)中的顯微觀察任務(wù)。
澤攸 ZEM15:小型科研團(tuán)隊(duì)顯微分析工具 對于經(jīng)費(fèi)有限、空間緊張的小型科研團(tuán)隊(duì)或初創(chuàng)企業(yè),澤攸臺式掃描電子顯微鏡 ZEM15 以其高性價(jià)比與易維護(hù)性,成為微觀分析工作的實(shí)用工具,助力完成基礎(chǔ)科研與產(chǎn)品研發(fā)中的顯微觀察任務(wù)。
澤攸 ZEM15:高校教學(xué)顯微觀察優(yōu)選 在高?;A(chǔ)教學(xué)與入門級科研實(shí)驗(yàn)中,一款操作便捷、性能可靠的臺式掃描電子顯微鏡(SEM)能為學(xué)生與科研人員提供直觀的微觀觀察體驗(yàn)。澤攸臺式掃描電子顯微鏡 ZEM15,憑借貼合教學(xué)場景的設(shè)計(jì)與實(shí)用性能,成為眾多高校實(shí)驗(yàn)室的常用設(shè)備。
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