在材料科學(xué)、生命科學(xué)和工業(yè)檢測(cè)等領(lǐng)域，觀察微觀世界的高清細(xì)節(jié)是研究與質(zhì)控的關(guān)鍵。澤攸ZEM20Pro臺(tái)式高分辨率掃描電子顯微鏡（SEM），為實(shí)驗(yàn)室?guī)?lái)了一種結(jié)構(gòu)緊湊、操作便捷的微觀成像解決方案。

澤攸ZEM20Pro雖為臺(tái)式設(shè)計(jì)，但其核心性能承襲了大型設(shè)備的技術(shù)精髓。產(chǎn)品采用高亮度鎢燈絲電子槍，確保了信號(hào)的穩(wěn)定性和圖像的信噪比。光學(xué)鏡筒與真空系統(tǒng)經(jīng)過(guò)精心設(shè)計(jì)，減少了像差，有助于獲得更清晰的圖像。其樣品室設(shè)計(jì)兼顧了實(shí)用性與便捷性，可容納最大直徑達(dá)100mm的塊狀樣品，并配備了可移動(dòng)的五軸優(yōu)中心樣品臺(tái)，支持X、Y、Z、傾斜、旋轉(zhuǎn)多維調(diào)節(jié)，方便用戶快速定位感興趣的區(qū)域。

設(shè)備集成了高靈敏度背散射電子（BSE）探測(cè)器，能夠有效獲取成分襯度信息，輔助進(jìn)行材料初步分析。在軟件方面，ZEM20Pro配備了功能豐富的控制平臺(tái)，界面直觀，不僅支持自動(dòng)圖像拼接、圖像測(cè)量等常用功能，還簡(jiǎn)化了抽真空、加高壓等操作流程，降低了新用戶的學(xué)習(xí)門(mén)檻，讓科研人員能更專注于樣本本身而非儀器操作。

其采用的材料注重耐用性與穩(wěn)定性，主體結(jié)構(gòu)堅(jiān)固，關(guān)鍵部件選材考究，旨在保證設(shè)備在長(zhǎng)期使用中的可靠性。ZEM20Pro適用于高校教學(xué)、企業(yè)研發(fā)、質(zhì)量檢測(cè)等多種場(chǎng)景，無(wú)論是金屬、陶瓷、半導(dǎo)體，還是生物、高分子材料，都能提供有價(jià)值的微觀形貌信息。

型號(hào)： ZEM20Pro

關(guān)鍵參數(shù)：

• 分辨率： 30 nm (加速電壓30kV)

• 放大倍數(shù)： 10x - 100,000x

• 加速電壓： 0-30 kV (可調(diào))

• 樣品臺(tái)： 五軸優(yōu)中心手動(dòng)樣品臺(tái)

• 樣品尺寸： Max. ? 100 mm

• 真空系統(tǒng)： 分子泵系列

使用前，需確保設(shè)備放置在穩(wěn)固、無(wú)強(qiáng)磁干擾的實(shí)驗(yàn)臺(tái)上，并連接穩(wěn)定的電源。操作時(shí)，只需將樣品安置于樣品座，放入樣品室，啟動(dòng)軟件預(yù)設(shè)的抽真空程序，待真空就緒后即可選擇參數(shù)開(kāi)始觀察。日常維護(hù)主要包括保持樣品室清潔和定期檢查真空泵油。