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PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測(cè)量系統(tǒng)，是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過(guò)探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量，并可在電學(xué)測(cè)量的同時(shí)，動(dòng)態(tài)、高分辨地對(duì)樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價(jià)態(tài)進(jìn)行綜合表征，大大地?cái)U(kuò)展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。

澤攸原位電鏡MEMS系統(tǒng)技術(shù)解析方案澤攸透射電鏡原位MEMS系統(tǒng)是一套專為透射電子顯微鏡設(shè)計(jì)的微機(jī)電實(shí)驗(yàn)平臺(tái)，旨在實(shí)現(xiàn)對(duì)材料在多種外場(chǎng)激勵(lì)下的實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)觀測(cè)。該系統(tǒng)通過(guò)精密的微納加工技術(shù)，為材料科學(xué)研究提供了原位實(shí)驗(yàn)的解決方案。

澤攸原位MEMS：動(dòng)態(tài)電鏡觀測(cè)新方案在材料科學(xué)、納米技術(shù)和生命科學(xué)等領(lǐng)域，透射電子顯微鏡（TEM）是觀察材料微觀結(jié)構(gòu)的重要工具。而原位實(shí)驗(yàn)技術(shù)的進(jìn)步，使得研究人員能夠在原子尺度下實(shí)時(shí)觀察材料在外界刺激（如加熱、拉伸、電場(chǎng)等）下的動(dòng)態(tài)變化。澤攸科技推出的透射電鏡原位MEMS（微機(jī)電系統(tǒng)）技術(shù)，為這一研究方向提供了新的實(shí)驗(yàn)手段。

澤攸透射電鏡原位MEMS加熱/電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)，透射電子顯微鏡是提供在較高時(shí)間分辨率下得到原子級(jí)空間分辨率的實(shí)驗(yàn)手段。

澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)，是在標(biāo)配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實(shí)現(xiàn)低溫電學(xué)測(cè)量或全溫區(qū)測(cè)量功能。

澤攸透射電鏡原位MEMS液體電化學(xué)測(cè)量系統(tǒng)，采用全新的O圈輔助密封設(shè)計(jì)，更易封裝液體。實(shí)驗(yàn)中，樣品被密封在很薄氮化硅薄膜覆蓋的液體池內(nèi)，池內(nèi)可以承載一個(gè)大氣壓。芯片電極聯(lián)通外接電路，從而在電鏡中搭建一個(gè)液體-電化學(xué)測(cè)試環(huán)境。