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澤攸TEM原位方案(樣品桿)
澤攸原位電鏡MEMS系統(tǒng)技術(shù)解析方案
澤攸原位電鏡MEMS系統(tǒng)技術(shù)解析方案澤攸透射電鏡原位MEMS系統(tǒng)是一套專為透射電子顯微鏡設計的微機電實驗平臺,旨在實現(xiàn)對材料在多種外場激勵下的實時動態(tài)觀測。該系統(tǒng)通過精密的微納加工技術(shù),為材料科學研究提供了原位實驗的解決方案。
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澤攸原位電鏡MEMS系統(tǒng)技術(shù)解析方案 澤攸原位電鏡MEMS系統(tǒng)技術(shù)解析方案
• 集成熱學、電學、力學等多物理場激勵功能
• 溫度控制范圍通常為室溫至1000℃
• 最大施加電壓可達200V
• 力學加載分辨率可達毫牛量級
• 標準樣品窗口尺寸為500×500μm
• 兼容主流透射電鏡樣品桿接口
• 支持液體環(huán)境實驗(選配)
• 低熱漂移結(jié)構(gòu)設計
• 集成高靈敏度傳感器
• 實時數(shù)據(jù)同步采集功能
• 多通道信號輸出接口
• 兼容電鏡圖像同步記錄
納米材料在外場作用下的結(jié)構(gòu)演變研究
催化劑材料反應過程的原位觀察
低維材料機電性能表征
功能材料相變行為分析
微納器件工作機理研究
• 需在專業(yè)人員指導下安裝使用
• 實驗參數(shù)設置建議循序漸進
• 高溫實驗需注意熱平衡時間
• 定期檢查電氣連接狀態(tài)
• 建議配合防震措施使用
澤攸科技提供以下專業(yè)支持:
系統(tǒng)安裝與操作培訓
實驗方案設計咨詢
定期維護保養(yǎng)服務
專用配件供應保障
數(shù)據(jù)分析方法指導
該原位MEMS系統(tǒng)通過其多場耦合的實驗能力和精密的微納結(jié)構(gòu)設計,為透射電鏡下的動態(tài)觀測研究提供了實用的技術(shù)手段。系統(tǒng)適用于需要在外場條件下研究材料微觀結(jié)構(gòu)變化的科研領(lǐng)域。澤攸原位電鏡MEMS系統(tǒng)技術(shù)解析方案
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