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澤攸臺(tái)式掃描電鏡
參數(shù)深解讀:讀懂澤攸電鏡ZEM20的性能表
參數(shù)深解讀:讀懂澤攸電鏡ZEM20的性能表在選擇掃描電鏡時(shí),讀懂參數(shù)表是理解儀器性能的關(guān)鍵。讓我們結(jié)合澤攸ZEM20的參數(shù),逐一解讀其背后的含義,幫助您做出合適的判斷。
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參數(shù)深解讀:讀懂澤攸電鏡ZEM20的性能表
在選擇掃描電鏡時(shí),讀懂參數(shù)表是理解儀器性能的關(guān)鍵。讓我們結(jié)合澤攸ZEM20的參數(shù),逐一解讀其背后的含義,幫助您做出合適的判斷。
分辨率(3.5 nm @ 30kV): 這是電鏡最重要的核心參數(shù)之一,代表儀器區(qū)分兩個(gè)相鄰微小點(diǎn)的能力。數(shù)值越小,分辨能力越強(qiáng)。3.5納米的分辨率意味著ZEM20能夠清晰顯示大多數(shù)納米材料的結(jié)構(gòu)、病毒顆粒、以及集成電路上的細(xì)微線條,滿足常規(guī)微觀形貌觀察的需求。
加速電壓(1 kV - 30 kV 可調(diào)): 加速電壓決定了電子束撞擊樣品的能量。高電壓(如20-30kV)電子穿透能力較強(qiáng),適合觀測(cè)導(dǎo)電性好的固體樣品,圖像景深大。低電壓(如1-5kV)能減少對(duì)非導(dǎo)電和敏感樣品的損傷,并突出表面細(xì)節(jié),對(duì)于觀測(cè)聚合物、生物樣品等非常有益。ZEM20的可調(diào)范圍較寬,提供了應(yīng)用的靈活性。
放大倍數(shù)(10x - 200,000x): 放大倍數(shù)決定了觀測(cè)的尺度范圍。10倍的低倍可用于快速定位樣品大致區(qū)域;上萬(wàn)到數(shù)十萬(wàn)倍的高倍則用于觀察納米尺度的精細(xì)結(jié)構(gòu)。ZEM20的倍數(shù)范圍覆蓋了從毫米到納米的多個(gè)量級(jí)。
電子槍類型(熱發(fā)射電子槍): 熱發(fā)射電子槍是技術(shù)成熟、穩(wěn)定性較好的一種電子源。它提供的束流較大,在中等分辨率下能獲得信噪比較好的圖像,且成本和維護(hù)相對(duì)較低,是臺(tái)式電鏡中常見(jiàn)的選擇。
樣品臺(tái)(五軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)): 五軸(X、Y、Z、傾斜、旋轉(zhuǎn))意味著用戶可以在不直接接觸樣品的情況下,通過(guò)軟件精確控制樣品的位置和姿態(tài)。這對(duì)于觀察不規(guī)則樣品的特定區(qū)域、獲取立體對(duì)圖像等操作非常方便。
樣品尺寸(最大直徑100mm): 這一參數(shù)決定了儀器能容納樣品的最大尺寸。100mm的容量使得ZEM20可以容納標(biāo)準(zhǔn)的半導(dǎo)體硅片、較大的巖石碎片或同時(shí)放置多個(gè)小樣品,提高了觀測(cè)效率。
通過(guò)以上解讀,我們可以看到澤攸ZEM20的參數(shù)配置旨在平衡性能、易用性和成本。它并非追求極限參數(shù),而是在多個(gè)關(guān)鍵指標(biāo)上達(dá)到了一個(gè)適用于常規(guī)實(shí)驗(yàn)室和工業(yè)檢測(cè)的水平,是一款務(wù)實(shí)且功能齊全的臺(tái)式掃描電鏡解決方案。
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