澤攸臺(tái)式掃描電鏡操作流程與規(guī)范指南
正確操作是發(fā)揮ZEM20性能的關(guān)鍵。本文從開機(jī)、樣品裝載、參數(shù)設(shè)置到關(guān)機(jī),詳細(xì)說明操作流程與注意事項(xiàng),幫助用戶規(guī)范使用設(shè)備。
檢查環(huán)境:實(shí)驗(yàn)室溫度應(yīng)控制在20±5℃,濕度≤70%,避免電磁干擾(遠(yuǎn)離大型電機(jī))。
開啟電源:先開外接穩(wěn)壓電源(輸出220V±10%),再啟動(dòng)主機(jī)電源開關(guān)(位于機(jī)身背面)。等待30秒后,真空系統(tǒng)自動(dòng)啟動(dòng),機(jī)械泵開始預(yù)抽真空。
系統(tǒng)自檢:觸控屏顯示“系統(tǒng)初始化",約2分鐘后進(jìn)入主界面,確認(rèn)真空狀態(tài)為“預(yù)抽中"(高真空模式需等待至“高真空就緒",約5分鐘)。
打開樣品倉門:按下艙門解鎖按鈕(紅色),向外拉出樣品倉。
固定樣品:使用標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)(直徑25mm),通過導(dǎo)電膠或碳帶將樣品粘牢(避免樣品脫落或移動(dòng))。若樣品過高(≤10mm),可調(diào)節(jié)樣品臺(tái)高度旋鈕至合適位置。
關(guān)閉樣品倉:輕推樣品倉至鎖定位置,聽到“咔嗒"聲表示密封良好。
選擇真空模式:非導(dǎo)電樣品(如聚合物)選“低真空",導(dǎo)電樣品(如金屬)選“高真空"。
調(diào)節(jié)加速電壓:初始建議10kV(低損傷),根據(jù)成像效果調(diào)整(如需更高分辨率,升至20-30kV)。
聚焦與消像散:點(diǎn)擊“自動(dòng)聚焦"按鈕,若效果不佳,手動(dòng)調(diào)節(jié)焦距旋鈕;消像散器調(diào)至“自動(dòng)",優(yōu)化圖像銳度。
選擇探測器:默認(rèn)SE模式,需成分分析時(shí)切換至BSE(選配)。
圖像采集:點(diǎn)擊“拍照"保存JPEG或TIFF格式,支持連續(xù)拍攝(間隔1秒)。
降低加速電壓至5kV,關(guān)閉燈絲電流(避免燈絲氧化)。
待真空系統(tǒng)自動(dòng)泄真空(約2分鐘),打開樣品倉取出樣品。
清潔樣品倉:用無塵紙擦拭倉內(nèi)壁,避免樣品殘留污染下次實(shí)驗(yàn)。
樣品需干燥、無油污,避免污染真空腔(否則延長抽真空時(shí)間)。
高真空模式下,禁止直接放入未噴金的非導(dǎo)電樣品(易荷電導(dǎo)致圖像模糊)。
長期停機(jī)(超過1周)時(shí),建議每周開機(jī)1次,維持真空系統(tǒng)活性。
通過規(guī)范操作,ZEM20可保持穩(wěn)定性能,減少故障概率。新手用戶建議先進(jìn)行模擬樣品(如銅網(wǎng)、標(biāo)準(zhǔn)金顆粒)練習(xí),熟悉參數(shù)調(diào)節(jié)與成像邏輯后再開展正式實(shí)驗(yàn)
澤攸臺(tái)式掃描電鏡操作流程與規(guī)范指南