探秘澤攸ZEM20掃描顯微鏡操作說明簡介

ZEM20的操作流程經(jīng)過精心設(shè)計(jì)，力求簡潔直觀。開機(jī)順序依次為：打開主機(jī)電源、啟動計(jì)算機(jī)、運(yùn)行控制軟件。軟件啟動后會自動進(jìn)行設(shè)備自檢，確認(rèn)各系統(tǒng)狀態(tài)正常。樣品裝載過程簡單：點(diǎn)擊軟件中的"放氣"按鈕，待樣品室氣壓與外界平衡后，輕輕拉開艙門，將樣品座放置在樣品臺上，順時(shí)針旋轉(zhuǎn)鎖定即可。

開始觀察前，需要*行基本設(shè)置。在軟件界面選擇合適的工作模式，包括高真空模式、低真空模式（若選配）和減速模式。根據(jù)樣品特性設(shè)置加速電壓，通常導(dǎo)電樣品選擇10-15kV，非導(dǎo)電樣品選擇5-10kV。探頭設(shè)置中可根據(jù)需要開啟二次電子探測器或背散射電子探測器。

調(diào)校過程中，首先使用低倍數(shù)（如100倍）尋找感興趣區(qū)域，然后逐步提高放大倍數(shù)。在1000倍以上觀察時(shí)，需要進(jìn)行焦距和像散校正。軟件提供自動對焦功能，也可手動精細(xì)調(diào)節(jié)。拍攝圖像時(shí)，建議根據(jù)需求選擇合適的掃描速度和幀平均次數(shù)，平衡圖像質(zhì)量和獲取時(shí)間。

ZEM20的操作流程簡潔，適合非專業(yè)用戶。首先，開啟電源并啟動控制軟件，裝入樣品后啟動真空系統(tǒng)。待真空就緒后（通常需數(shù)分鐘），加載加速電壓。通過鼠標(biāo)雙擊樣品導(dǎo)航圖選擇觀察區(qū)域，將樣品移至視野中心。調(diào)節(jié)焦距時(shí)，先尋找特征點(diǎn)（如棱角結(jié)構(gòu)），旋轉(zhuǎn)焦距旋鈕直至圖像邊緣銳利。若圖像出現(xiàn)像散，需交替調(diào)節(jié)X軸與Y軸像散旋鈕，并結(jié)合焦距調(diào)整，重復(fù)至圖像清晰。接下來，進(jìn)行光闌對中：點(diǎn)擊Align中的Aperture alignment，若圖像晃動，調(diào)節(jié)X和Y參數(shù)至穩(wěn)定。最后，在軟件中選擇掃描模式（如Line Avg），設(shè)置掃描速度與圖像分辨率，點(diǎn)擊Capture拍照保存。全程可通過艙內(nèi)攝像頭輔助監(jiān)控。探秘澤攸ZEM20掃描顯微鏡操作說明簡介