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澤攸臺式掃描電鏡
探秘澤攸ZEM20掃描顯微鏡臺式電鏡新選擇
探秘澤攸ZEM20掃描顯微鏡臺式電鏡新選擇澤攸ZEM20臺式掃描電子顯微鏡是一款創(chuàng)新設(shè)計的國產(chǎn)科學(xué)儀器,在保持較小體積的同時實現(xiàn)了較高的成像性能
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澤攸ZEM20臺式掃描電子顯微鏡是一款創(chuàng)新設(shè)計的國產(chǎn)科學(xué)儀器,在保持較小體積的同時實現(xiàn)了較高的成像性能。該設(shè)備采用模塊化設(shè)計思路,整體尺寸為560×480×480mm,重量約65kg,可放置在標(biāo)準(zhǔn)實驗臺上使用。其核心成像系統(tǒng)采用預(yù)對中鎢燈絲電子槍,配備電磁對中系統(tǒng),有效延長了燈絲使用壽命。樣品室空間達到φ180mm×130mm,支持最大50mm的樣品座,為各類樣品觀察提供了充足空間。值得一提的是,該設(shè)備采用了獨特的真空分隔技術(shù),將電子槍真空與樣品室真空分離,使得換樣后僅需1分鐘即可恢復(fù)高真空狀態(tài)。這種設(shè)計不僅提高了工作效率,還降低了對電子槍的污染風(fēng)險。
澤攸ZEM20臺式掃描電子顯微鏡是一款國產(chǎn)臺式掃描電鏡,由安徽澤攸科技有限公司研發(fā)生產(chǎn)。該設(shè)備集成了創(chuàng)新技術(shù),兼顧成像效果與便攜性,適用于多種應(yīng)用場景。其核心參數(shù)包括:分辨率優(yōu)于4nm@20kV,放大倍數(shù)可達36萬倍,加速電壓最大為20kV,并配備預(yù)對中鎢燈絲電子槍。電鏡采用真空分隔技術(shù),使電子槍與樣品倉真空分離,換樣時間縮短至1分鐘以內(nèi)。樣品倉設(shè)計為超大容量,支持原位實驗與實時監(jiān)測。此外,ZEM20可選配減速模式,幫助弱導(dǎo)電樣品在不噴金的條件下直接觀察。該型號在新材料、新能源、生物醫(yī)藥等領(lǐng)域均有應(yīng)用,以其用戶友好的界面和較高性價比,成為高校、科研機構(gòu)及企業(yè)的常用設(shè)備
在操作體驗方面,ZEM20配備了高靈敏度的二次電子探測器和背散射電子探測器。其中,背散射電子探測器采用四象限設(shè)計,可通過軟件實時調(diào)節(jié)成分襯度和形貌襯度的混合比例,幫助用戶獲得更豐富的樣品信息。設(shè)備還內(nèi)置了500萬像素的導(dǎo)航相機,用戶可通過實時圖像快速定位感興趣區(qū)域,大大提升了工作效率。
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