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探秘澤攸ZEM20掃描顯微鏡核心技術解析

產品簡介

探秘澤攸ZEM20掃描顯微鏡核心技術解析
ZEM20掃描電鏡具備多項特色技術。

產品型號:
更新時間:2025-10-14
廠商性質:代理商
訪問量:9
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探秘澤攸ZEM20掃描顯微鏡核心技術解析

ZEM20掃描電鏡具備多項特色技術。其一,真空分隔設計實現了電子槍、樣品倉的獨立真空,避免了頻繁換樣對電子槍壽命的影響,同時提升了效率。其二,設備集成光學導航與艙內攝像頭,用戶可通過實時圖像精準定位樣品,并在原位實驗中監(jiān)測動態(tài)變化。其三,采用一體式聚光鏡結構,無需手動調節(jié)光闌,所有操作均通過鼠標完成,降低了使用門檻。其四,信號采集帶寬達到10M,支持高速掃描與視頻模式實時觀察。此外,ZEM20還提供豐富的原位拓展功能,可兼容多種自研附件,如拉伸臺、加熱臺、冷臺等。這些特點使ZEM20在臺式電鏡中表現出較好的集成度與功能性

探秘澤攸ZEM20掃描顯微鏡核心技術解析

ZEM20掃描電鏡集成了多項創(chuàng)新技術,其中具特色的是其獨特的真空系統(tǒng)設計。該系統(tǒng)采用兩級真空結構,通過分子泵與機械泵的組合,實現了樣品室的快速抽真空能力。在標準工況下,從大氣壓狀態(tài)到可工作的高真空狀態(tài)僅需約3分鐘。這種快速抽真空能力使得設備特別適合需要頻繁更換樣品的科研環(huán)境。

另一個值得關注的技術特點是其電子光學系統(tǒng)。該系統(tǒng)采用三級電磁透鏡設計,配合可自動對中的光闌機構,確保了電子束的穩(wěn)定性。電子光學系統(tǒng)的加速電壓可在1-20kV范圍內連續(xù)可調,束流大小通過軟件自動控制。設備還配備了獨特的減速模式功能,在該模式下,樣品臺可施加負偏壓,有效減緩入射電子能量,減少樣品充電效應,特別適用于觀察非導電樣品。

信號采集系統(tǒng)采用10MHz帶寬的前端放大電路,支持從慢掃描拍照到實時視頻觀察的多種工作模式。在視頻模式下,幀率最高可達25幀/秒,便于用戶實時觀察樣品動態(tài)變化或快速尋找感興趣區(qū)域。探秘澤攸ZEM20掃描顯微鏡核心技術解析



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