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澤攸ZEM20掃描顯微鏡選購配置指南
澤攸ZEM20掃描顯微鏡選購配置指南ZEM20支持豐富的附件系統(tǒng),擴(kuò)展了其應(yīng)用范圍。原位實驗附件包括拉伸臺,可在觀察樣品的同時施加拉伸力,實時記錄材料變形和斷裂過程。加熱臺最高工作溫度可達(dá)1200℃,配合高溫樣品座,可觀察材料在加熱過程中的相變、燒結(jié)等動態(tài)變化。
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澤攸ZEM20掃描顯微鏡選購配置指南
選購ZEM20時需要綜合考慮研究需求和預(yù)算限制。基礎(chǔ)配置包括主機(jī)、電子光學(xué)系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和基本探測系統(tǒng),可滿足常規(guī)形貌觀察需求。若經(jīng)常觀察非導(dǎo)電樣品,建議選配低真空模式或減速模式功能,這些功能能有效緩解樣品充電問題。
對于需要進(jìn)行成分分析的用戶,能譜儀是必要選配。目前主流的硅漂移探測器具有較高計數(shù)率和能量分辨率,適合多數(shù)應(yīng)用場景。若需要分析超輕元素,可考慮配備超薄窗口或無窗探測器,但需要注意維護(hù)要求更高。
樣品類型也是重要考慮因素。常規(guī)樣品使用標(biāo)準(zhǔn)樣品座即可,若需要觀察特殊形狀或尺寸的樣品,可選購專用樣品座。進(jìn)行動態(tài)實驗研究的用戶應(yīng)考慮原位實驗附件,如拉伸臺、加熱臺等。這些附件雖然增加投資,但能極大擴(kuò)展設(shè)備功能。
售后服務(wù)同樣重要。建議選擇提供完善技術(shù)支持和培訓(xùn)服務(wù)的供應(yīng)商,確保設(shè)備始終處于良好狀態(tài)。定期維護(hù)合同能幫助預(yù)防潛在問題,減少意外停機(jī)時間。
ZEM20是澤攸科技ZEM系列中的一款,與其他型號如ZEM18、ZEM15C和ZEM Ultra場發(fā)射電鏡形成互補(bǔ)。ZEM20主要定位中端,分辨率4nm,放大倍數(shù)36萬倍;而ZEM Ultra場發(fā)射型號可能分辨率更高。選購時需關(guān)注:分辨率需求(是否高于4nm)、加速電壓范圍(ZEM20為20kV)、樣品倉尺寸(ZEM20為大倉設(shè)計)以及是否需原位附件。預(yù)算方面,ZEM20參考價格約60萬元人民幣,用戶應(yīng)根據(jù)實際應(yīng)用選擇配置,如材料科學(xué)可能需加熱臺,生物樣品可選減速模式。售后服務(wù)方面,澤攸科技提供1年質(zhì)保、現(xiàn)場培訓(xùn)與遠(yuǎn)程診斷。澤攸ZEM20掃描顯微鏡選購配置指南
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