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PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng)，是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量，并可在電學(xué)測量的同時，動態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價態(tài)進(jìn)行綜合表征，大大地擴(kuò)展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。

澤攸原位電鏡MEMS系統(tǒng)技術(shù)解析方案澤攸透射電鏡原位MEMS系統(tǒng)是一套專為透射電子顯微鏡設(shè)計的微機(jī)電實(shí)驗(yàn)平臺，旨在實(shí)現(xiàn)對材料在多種外場激勵下的實(shí)時動態(tài)觀測。該系統(tǒng)通過精密的微納加工技術(shù)，為材料科學(xué)研究提供了原位實(shí)驗(yàn)的解決方案。

澤攸原位MEMS：動態(tài)電鏡觀測新方案在材料科學(xué)、納米技術(shù)和生命科學(xué)等領(lǐng)域，透射電子顯微鏡（TEM）是觀察材料微觀結(jié)構(gòu)的重要工具。而原位實(shí)驗(yàn)技術(shù)的進(jìn)步，使得研究人員能夠在原子尺度下實(shí)時觀察材料在外界刺激（如加熱、拉伸、電場等）下的動態(tài)變化。澤攸科技推出的透射電鏡原位MEMS（微機(jī)電系統(tǒng)）技術(shù)，為這一研究方向提供了新的實(shí)驗(yàn)手段。

澤攸透射電鏡原位MEMS加熱/電學(xué)測量系統(tǒng)，透射電子顯微鏡是提供在較高時間分辨率下得到原子級空間分辨率的實(shí)驗(yàn)手段。

澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測量系統(tǒng)，是在標(biāo)配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實(shí)現(xiàn)低溫電學(xué)測量或全溫區(qū)測量功能。

澤攸透射電鏡原位MEMS液體電化學(xué)測量系統(tǒng)，采用全新的O圈輔助密封設(shè)計，更易封裝液體。實(shí)驗(yàn)中，樣品被密封在很薄氮化硅薄膜覆蓋的液體池內(nèi)，池內(nèi)可以承載一個大氣壓。芯片電極聯(lián)通外接電路，從而在電鏡中搭建一個液體-電化學(xué)測試環(huán)境。