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ZEM18掃描電鏡：原位測(cè)試“動(dòng)態(tài)觀測(cè)利器” 在材料動(dòng)態(tài)行為研究中，原位測(cè)試技術(shù)已成為揭示微觀機(jī)制的關(guān)鍵手段。澤攸科技ZEM18臺(tái)式掃描電子顯微鏡通過模塊化設(shè)計(jì)，兼容拉伸、加熱、冷卻等多類原位附件，為材料力學(xué)、熱學(xué)及電化學(xué)性能研究提供一體化觀測(cè)平臺(tái)。

ZEM18掃描電鏡：科研與工業(yè)“微觀觀測(cè)站” 在材料科學(xué)、新能源開發(fā)及工業(yè)檢測(cè)領(lǐng)域，微觀結(jié)構(gòu)的精準(zhǔn)分析是推動(dòng)技術(shù)突破的關(guān)鍵。澤攸科技ZEM18臺(tái)式掃描電子顯微鏡（SEM）憑借其緊湊設(shè)計(jì)、多功能集成與高效性能，成為實(shí)驗(yàn)室與生產(chǎn)線上的“微觀觀測(cè)站”。

ZEM20掃描電鏡：從科研到產(chǎn)業(yè)“橋梁設(shè)備” 在高校實(shí)驗(yàn)室與企業(yè)研發(fā)中心之間，存在一類對(duì)設(shè)備性能與成本均敏感的用戶群體——他們需要高分辨率成像能力，同時(shí)希望設(shè)備易于維護(hù)、操作門檻低。澤攸科技ZEM20臺(tái)式掃描電子顯微鏡憑借“高性價(jià)比”與“用戶友好性”，成為連接基礎(chǔ)研究與產(chǎn)業(yè)應(yīng)用的理想選擇。

ZEM20掃描電鏡：原位測(cè)試的“全能搭檔” 在材料動(dòng)態(tài)行為研究中，原位測(cè)試技術(shù)已成為揭示微觀機(jī)制的關(guān)鍵手段。澤攸科技ZEM20臺(tái)式掃描電子顯微鏡通過模塊化設(shè)計(jì)，兼容拉伸、加熱、冷卻等多類原位附件，為材料力學(xué)、熱學(xué)及電化學(xué)性能研究提供一體化觀測(cè)平臺(tái)。

ZEM20臺(tái)式掃描電鏡：微觀世界的“多面手” 在材料科學(xué)、新能源開發(fā)及生物醫(yī)藥等領(lǐng)域，微觀結(jié)構(gòu)的分析需求日益增長(zhǎng)。澤攸科技推出的ZEM20臺(tái)式掃描電子顯微鏡（SEM），憑借其緊湊設(shè)計(jì)、多功能集成與便捷操作，成為實(shí)驗(yàn)室與工業(yè)場(chǎng)景中的“微觀觀測(cè)工具”。

澤攸：航材精密檢測(cè)臺(tái)階儀 在航空航天精密配件制造領(lǐng)域，配件材質(zhì)多樣（如鈦合金、復(fù)合材料、陶瓷涂層）且結(jié)構(gòu)復(fù)雜（如異形曲面、微小臺(tái)階），對(duì)檢測(cè)設(shè)備的多材質(zhì)適配性與精度穩(wěn)定性要求更高。澤攸全自動(dòng)臺(tái)階儀 JS3000B 憑借接觸式 + 光學(xué)式雙測(cè)量模式、高剛性結(jié)構(gòu)與耐用設(shè)計(jì)，成為航空航天精密配件檢測(cè)的實(shí)用工具，幫助企業(yè)完成配件臺(tái)階高度、涂層厚度等關(guān)鍵參數(shù)檢測(cè)，保障飛行安全相關(guān)部件的質(zhì)量。